资料介绍
中华人民共和国国家计量检定规程
JJG 37—2005
正弦 规
2005-09-05发布 2006-03-05实施
国家 质量 监督 检验 检疫 总局 发布
正弦规检定规程 Verification Regulation of
以以以以以以以以以以以以以弋
代替 JJG 37—1992
弋以以以以以以以以以以以以以
本规程经国家质量监督检验检 疫总 局 2005年 09月 05 日批 准 , 并自2006年 03月 05 日起施行。
归口 单位 : 全国几何量角度计量技术委员会
主要起草单位 : 河南省计量科学研究院
参加起草单位 : 成量工具有限公司
本规程委托全国几何量角度计量技术委员会负责解释
本规程主要起草人 :
葛伟三 (河南省计量科学研究院)贾晓杰 (河南省计量科学研究院)张卫东 (河南省计量科学研究院)
参加起草人 :
牛淑之 (河南省计量科学研究院)丁华 (成量工具有限公司)
正弦规检定规程
1 范围
本规程适用于准确度等级为 0 级和 1 级的正弦规的首次检定、后续检定和使用中检验。
2 引用文献
本规程引用下列文献 :
JB/T 7973—1999 正弦规
使用本规程时 , 应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3 概述
正弦规是应用正弦原理 , 借助量块产生角度的一种计量器具 , 主要用于测量工件角度和圆锥体锥度。 它分 为 0 级和 1 级 , 有窄 型 (见图 1) 和宽 型 (见图 2) 两种 结构型式。
图 1 窄型正弦规
1—螺钉 ; 2—前挡板 ; 3—主体 ; 4—侧挡板 ; 5—圆柱
4 计量性能要求
4.1 测量面的表面粗糙度
最大允许误差要求见表 1。
4.2 主体工作面的平面度
图 2 宽型正弦规
1—螺钉 ; 2—前挡板 ; 3—主体 ; 4—侧挡板 ; 5—圆柱最大允许误差要求见表 1。
4.3 主体工作面与圆柱母线公切面的平行度最大允许误差要求见表 1。
表 1 计量性能要求
4.4 两圆柱轴线的平行度
4.5 两圆柱中心距的偏差
4.6 正弦规成 30°时的角值偏差最大允许误差要求见表 1。
5 通用技术要求
5.1 外观
5.1.1 正弦规的各工作面上应无锈蚀、碰伤、划痕和毛刺。
5.1.2 正弦规应标明制造厂 (或厂标)、标志、规格及出厂编号。
5.2 磁性
正弦规应无磁性。
使用中与修理后的正弦规允许有不影响测量准确度的上述缺陷。
6 计量器具控制
计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检验。
6.1 检定条件
6.1.1 环境条件
6.1.1.1 实验室的温度为 (20±1)℃ , 每小时温度变化应不大于 1 ℃。
6.1.1.2 检定前 , 应将正弦规置于室内平板上不少于 1 h, 或置于室内不少于 3 h。
6.1.2 主要检定器具及其技术要求
主要检定器具及其技术要求见表 2。
表 2 主要检定器具及其技术要求
6.2 检定项目
正弦规检定项目见表 3。
表 3
6.3 检定方法
6.3.1 外观
目力观察。
6.3.2 磁性
试验。
6.3.3 测量面的表面粗糙度
用表面粗糙度比较样块以比较法进行检定。
6.3.4 主体工作面平面度
使用尺寸不小于主体工作面对角线长度的 0 级刀口形直尺 , 在受检工作面不少于四个位置 (如图 3所示) 上以光隙法进行测量 , 取最大值作为检定结果。
图 3 主体工作面平面度测量位置示意图
6.3.5 主体工作面与两圆柱母线公切面的平行度
检定时 , 将正弦规放在平板上 , 使紧固在万能表架上的测微仪与主体工作面接触 ,接触点位置距工作面边缘约 4 mm , 移动正弦规 , 按图 4所示 A, B, C, D 四个位置分别进行测量 , 测微仪测得的最大值与最小值之差即为检定结果。
6.3.6 两圆柱轴线的平行度
该平行度应在平行和垂直于主体工作面的两个测量方向上进行。 首先按图 5 所示 ,使用卧式光学计 , 在圆柱母线的 A—A截面位置上测得一读数值 DA , 再在 B—B截面位置上测量一读数值 DB , DA 与 DB 的差值 , 即为平行于主体工作面测量方向的两圆柱轴线的平行度。
然后将正弦规主体工作面向下置于 00级平板 (见图 6) 上 , 用带万能表架的测微仪分别在 A—A 和 B—B两端截面位置上以一圆柱的最高母线为基准 , 测量两圆柱最高点间的高度偏差 , 两高度偏差之差为垂直于主体工作面方向的两圆柱轴线的平行度。两方向的两圆柱轴线的平行度的最大值为检定结果。
图 4 主体工作面与两圆柱母线公切面的平行度测量位置示意图
图 5 两圆柱轴线的平行度测量位置示意图
图 6 两圆柱轴线的平行度测量位置示意图
6.3.7 两圆柱中心距的偏差
6.3.7.1 用卧式光学计与量块以比较法检定两圆柱的直径。 检定时 , 将正弦规立于卧式光学计工作台面上 , 分别在两圆柱的中间截面 (即图 5 所示的 C—C截面) 上进行测量 , 分别测得圆柱 1 的截面直径 d1C和圆柱 2 的截面直径 d2C。
6.3.7.2 按图 5所示安置正弦规于卧式光学计工作台上 , 用光学计和量块以比较法测量图 5 中 C—C截面位置 DC 后 , 将其与 C—C截面位置的两圆柱直径 d1C、d2C一并代入式 (1) 求得正弦规中心距 , 该值与标称尺寸之差为检定结果。
式中 : L实 — 正弦规中心距实际值 , mm;
DC—C—C截面位置上两圆柱外侧的距离值 , mm; d1C , d2C— 两圆柱在 C—C截面位置上的直径 , mm。
6.3.8 正弦规成 30°时的角值偏差
6.3.8.1 0 级正弦规成 30°时的角值偏差是在 00级平板上测量。 测量时 , 先按图 7 所示 , 用测微仪测量主体工作面上 A, B两位置的数值 a0 和 b0 , 然后使用量块与正弦规组成 30°的角度 , 将 30°专用角度块置于正弦规上 , 并靠紧两挡板 , 再用测微仪测量角度块两端 A, B两点的数值 a1 和 b1 , 接着在平板原位置上 , 置换量块于正弦规的另一端 , 重复上述方法 , 分别测得 a3 , b3 , a4 和 b4 , 按式 (2) 计算检定结果。
Δα= arcsin+Δi (2)
式中 : Δα— 正弦规的角值偏差 , (″) ;
l— 测微仪在 A, B两点间的距离 (应不小于 66 mm) , mm;
Δi— 标准角度的角值偏差 , (″)。
6.3.8.2 1 级的正弦规装置成 30°时的角值偏差测量 , 首先在平板上使用量块与正弦规组成 30°的角度 (按图 7所示) , 将角度块置于正弦规主体工作面上 , 并紧靠两挡板 , 然后用紧固在万能表架上的测微仪的测微头与角度块工作面接触 , 分别读取 A, B两点的读数 a和 b, 按式 (3) 计算检定结果。
式中 : Δα— 正弦规的角值偏差 (″) ;
a, b— 分别为测微仪在 A, B两点的读数 , μm;
6.4 检定结果的处理
按本规程规定的要求检定合格的正弦规 , 发给检定证书 , 并注明准确度等级 ; 不合格的应发给检定结果通知书 , 并注明不合格项目。
6.5 检定周期
正弦规的检定周期根据使用情况确定 , 一般为 1 年。
图 7 角值偏差测量示意图
1—平板 ; 2—前挡板 ; 3—角度块 ; 4—测微仪 ; 5—侧挡板 ; 6—正弦规主体 ; 7—圆柱 ; 8—量块
附录
检定证书和检定结果通知书 (内页) 格式
(一) 检定证书的内页格式
(二) 检定结果通知书的内页格式
检定结果通知书内页应注明以下内容 : 按照本规程检定的不合格项目及具体数据。
