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GB/T 34504-2017 蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法

  • 英文名称:Measurement method for surface metal contamination on sapphire polished substrate wafer
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资料介绍

本标准规定了蓝宝石抛光衬底片表面深度为5 nm以内的残留金属元素的全反射X光荧光光谱测试方法。
本标准适用于蓝宝石抛光衬底片表面残留的、在元素周期表中11(Na)~92(U)号(除去铝和氧),且面密度在10ˇ9 atoms/cmˇ2~10ˇ15 atoms/cmˇ2范围内元素的定量测量。其他用途蓝宝石抛光片表面残留金属元素的测量可参照本标准执行。
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