GB/T 22181.5-2015 等离子体显示器件 第5部分：总规范

　　ICS 31. 120 L 47

　　中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准

　　GB/T 22181.5—2015代替 GB/T 11482—1989

　　等离子体显示器件

　　第 5 部分 : 总规范

　　Plasma displaypanels—

　　Part5:Genericspecification

　　2015-06-02发布 2016-02-01实施

　　中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会

　　发

　　布

　　GB/T 22181.5—2015

　　前 言

　　GB/T 22181《等离子体显示器件》的预计结构如下 :

　　— 第 1部分 :术语与文字符号(GB/T 22181. 1—2008) ;

　　— 第 2-1部分 :光学参数测量方法(GB/T 22181. 21—2008) ;

　　— 第 2-2部分 :光电参数测量方法(GB/T 22181. 22—2008) ;

　　— 第 2-3部分 :模块显示质量测量方法(GB/T 22181. 23—2012) ;

　　— 第 2-4部分 :数字电视机用器件特性测量方法 ;

　　— 第 3-1部分 :机械接 口 ;

　　— 第 3-2部分 : 电子接 口 ;

　　— 第 4部分 :气候和机械试验方法 ;

　　— 第 5部分 :总规范(GB/T 22181. 5—2015) ;

　　— 第 6部分 :数字电视机用等离子体显示器件空白详细规范 。

　　本部分是 GB/T 22181的第 5部分 。

　　本部分按照 GB/T 1. 1—2009给出的规则起草 。

　　本部分 代 替 GB/T 11482—1989《交 流 等 离 子 体 显 示 器 件 总 规 范 (可 供 认 证 用)》。 本 部 分 与GB/T 11482—1989相比 ,除编辑性修改外 ,主要技术性变化如下 :

　　— 增加了术语 :平均显示亮度 、平均图像电平 、色域覆盖率 、高灰度色域覆盖率 、低灰度色域覆盖率 、平均功耗 、视角 、亮度视角 、对比度视角 、色度视角 、动态图像分辨率 、图像条纹 、闪烁和噪声 ,及其定义(见 3. 1) ;

　　— 增加了质量评定类别 、筛选和操作等内容(见 4. 4、4. 5 和 4. 6) ;

　　— 在质量评定程序中 ,修改了检验分组的划分 ,增加了简化检验的补充程序和 LTPD 抽样方案(见 5. 11. 2、5. 11. 4 和 5. 12. 2) ;

　　— 试验项目和试验方法采用 GB/T 22181. 21—2008、GB/T 22181. 22—2008、GB/T 22181. 23— 2012和 SJ/T 11379—2008标准中规定的项目和方法 ;

　　— 增加了附录 A[批允许不合格品率(LTPD)抽样方案]和附录 B(规范的基本描述) 。

　　请注意本文件的某些内容可能涉及专利 。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 。

　　本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出 。

　　本部分由中国电子技术标准化研究院归 口 。

　　本部分起草单位 : 四川虹欧显示器件有限公司 、西安交通大学 、四川长虹电器股份有限公司 。

　　本部分主要起草人 :邓新群 、胡文波 、王平松 、赵晓东 、王丽雯 、黄长戈 、唐礼 。

　　本部分所代替标准的历次版本发布情况为 :

　　—GB/T 11482—1989。

　　等离子体显示器件第 5 部分 : 总规范

　　1 范围

　　GB/T 22181的本部分是等离子体显示器件的总规范 。 它规定了 IECQ-CECC体系质量评定的通用程序 ,并规定了电学 、光学 、图像显示 、机械及环境性能描述和测试的通用要求 。

　　本部分适用于等离子体显示器件 。

　　2 规范性引用文件

　　下列文件对于本文件的应用是必不可少的 。凡是注 日期的引用文件 ,仅注 日期的版本适用于本文件 。凡是不注日期的引用文件 ,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件 。

　　GB/T 2828. 1—2012 计数抽样检验程序 第 1 部分 :按接收质量限(AQL) 检索的逐批检验抽样计划

　　GB/T 4728(所有部分) 电气简图用图形符号

　　SJ/T 11378—2008 等离子体显示器件 第 3-1部分 :机械接 口

　　SJ/T 11379—2008 等离子体显示器件 第 4部分 :气候和机械试验方法

　　IEC 60027(所有部分) 电工技术用文字符号(Letter symbols to be used in electricaltechnology) IEC 60050(所有部分) 国际电工术语(International electrotechnicalvocabulary)

　　IEC 60410:1973 计数检查抽样方案和程序(Sampling plans and procedures for inspection by at- tributes)

　　IEC 60747-1 半导体器件 第 1部分 :总则(Semiconductor devices—Part1:General)

　　IECQ 01 电子元器件 IEC质量评定体系(IECQ) 基本规则 (IEC Quality Assessment System for Electronic components(IECQ)—Basic Rules)

　　IEC QC 001002: 2005 (所 有 部 分 ) 电 子 元 器 件 IEC 质 量 评 定 体 系 (IECQ) 程 序 规 则(IEC Quality AssessmentSystem for Electronic components(IECQ)—Rules ofProcedure)

　　ISO 1000:1992 国际单位制及其倍数单位和一些其他单位的应用推荐(SI units and recommen- dations fortheuse of their multiplesand of certain other units)

　　ISO 2859-10 用属性检验的抽样程序 第 10部分 :介绍属性检验的抽样程序用 ISO 2859系列标准(Sampling procedures for inspection by attributes—Part10: Introduction to the ISO 2859 series of standards for sampling for inspection by attributes)

　　ISO 3534-2统计学 词汇和符号 第 2 部分 :应用统计学(Statistics—Vocabulary and symbols— Part2: Applied statistics)

　　GB/T 22181.5—2015

　　3 术语、定义、单位、符号和缩略语

　　3. 1 术语和定义

　　GB/T 22181. 1—2008、IEC 60050、IECQ 01和 ISO 3534-2界 定 的 以 及 下 列 术 语 和 定 义 适 用 于 本文件 。

　　注 : IECQ 01和 ISO 3534-2给出了统计性质量控制的特殊术语 。

　　3. 1. 1

　　平均显示亮度 averageluminance

　　屏幕上显示九个大小相同的白色窗口(窗口总面积占屏幕面积的 17%)时 ,各窗口亮度的平均值 。 3. 1.2

　　平均图像电平 averagepicturelevel;APL

　　在一帧周期内视频信号积分的时间平均值 ,表示为与全白场信号的百分比 ,黑信号电平指定为 0。 3. 1.3

　　色域覆盖率 colordomain coverageratio

　　在 CIE 1976均匀色度空间(u',v') ,屏幕显示图像的色域面积(三基色 R、G、B三角形面积) 占全部可见光谱(从 380 nm 至 780 nm)所对应面积的百分比 。

　　3. 1.4

　　高灰度色域覆盖率 colordomain coverageratio ofhigh graylevelpicture

　　给 PDP模块输入高灰度电平的白色信号时 ,屏幕显示图像的色域覆盖率 。

　　3. 1.5

　　低灰度色域覆盖率 colordomain coverageratio oflow graylevelpicture

　　给 PDP模块输入低灰度电平的白色信号时 ,屏幕显示图像的色域覆盖率 。

　　3. 1.6

　　平均功耗 averagepowerconsumption

　　显示模块在规定的 APL分布的信号下消耗功率的平均值 。

　　3. 1.7

　　视角 viewing angle

　　由于屏幕的方向性 ,显示器的图像显示质量会随观看角度不同而发生改变 ,在可接受的某一规定的显示质量要求条件下 ,显示器可被观看的角度范围 。

　　3. 1. 8

　　亮度视角 luminanceviewing angle

　　随着观看角度的增加 ,屏幕显示图像的亮度会逐渐下降 ,在亮度大于或等于屏幕法线方向亮度(最大亮度)的三分之一时的视角范围 ,包括水平方向和垂直方向上的视角范围 。

　　3. 1.9

　　对比度视角 contrastratio viewing angle

　　随着观看角度的增加 ,屏幕显示图像的对比度会发生改变 ,在对比度大于或等于最大对比度的二分之一时的视角范围 ,包括水平方向和垂直方向上的视角范围 。

　　3. 1. 10

　　色度视角 colorviewing angle

　　随着观看角度的增加 ,屏幕显示图像的色彩会发生改变 ,在色度偏移 Δ(u',v') 小于或等于规定值时的视角范围 ,包括水平方向和垂直方向上的视角范围 。

　　3. 1. 11

　　动态图像分辨率 movingpictureresolution

　　在等离子体显示器件显示运动图像时 ,人眼所能观察到的图像细节的极限分辨率 。

　　3. 1. 12

　　图像条纹 imagestreaking

　　随着等离子体显示器件在垂直或水平方向上负载的改变而产生的屏幕亮度的变化 。

　　注 : 此中文术语与 GB/T 22181. 1—2008中 3. 102的图像亮影对应的英 文 术 语 相 同 ,但 它 们 的 定 义 是 不 同 的 ,在 本部分及所有引用本部分的标准中 ,与 image streaking对应的中文术语及其定义以本条为准 。

　　3. 1. 13

　　闪烁 flicker

　　显示屏上非有意产生的可察觉到的亮度变化 。

　　3. 1. 14

　　噪声 noise

　　等离子体显示模块处于工作状态时发出的听觉噪声 ,包括由显示屏和电路两部分发出的噪声 。

　　注 : 噪声依赖于显示的图像 、模块(屏)温度 、环境气压和机械条件 。

　　3.2 单位、符号和缩略语

　　如有可能 ,单位 、图形和文字符号应取自 GB/T 4728、IEC 60027和 ISO 1000:1992。

　　执行本部分的一种器件所特有的任何其他单位 、符号和术语应取自有关的国家标准 、IEC标 准 或ISO标准(见第 2 章)或依据上述所列标准的原则导出 。

　　本部分应用到下列缩略语 :

　　CRRL:放行批的证明记录(certified records of released lots)

　　AQL:接收质量限(acceptance quality limit)(见 5. 12. 1)

　　LTPD:批允许不合格品率(lottolerance percentage defective)(见 5. 12. 2)

　　SI:监督检查机构(supervision and inspection institution)

　　DMR:指定管理代表(designation managementrepresentative)

　　4 总则

　　4. 1 优先顺序

　　如有争议 ,各种文件应按照以下权限顺序执行 :

　　a) 详细规范 ;

　　b) 空白详细规范 ;

　　c) 分规范 ;

　　d) 总规范 ;

　　e) 基本规范 ;

　　f) IECQ程序规则 ;

　　g) 需要参考的任何其他国际文件(例如 IEC) ;

　　h) 国家文件 。

　　此优先顺序适用于等效的国家文件 。

　　附录 B 中给出了对规范的一般性说明 。

　　4.2 标准大气条件

　　进行性能测量 、试验和工作的标准大气条件是 :

　　温度 :25 ℃ ±3 ℃ ;

　　相对湿度 :25% ~ 85% ;

　　气压 :86kPa~ 106kPa。

　　4.3 标志

　　4.3. 1 器件识别

　　每个器件上应有可以清楚地确认出器件类型的标志 ,如型号 。

　　4.3.2 器件可追溯性

　　器件应有可追溯性代码 ,能够追溯到器件准确的生产批或检验批 ,如序列号 。

　　4.3.3 包装

　　包装上应有以下标志 :

　　a) 包装内器件的识别代码 ;

　　b) 器件可追溯性代码 ;

　　c) 包装内器件的数量 ;

　　d) 如需要 ,其他注意的事项 。

　　标志应与进出口海关条例保持一致 。 附加的要求可在有关详细规范中规定 。

　　4.4 质量评定类别

　　本部分规定了三个质量评定类别 。有识别代码和 日期代码的同一检验批内的器件 ,按规定的质量类别进行检验 。与同一检验分组对应的 AQL和 LTPD 可依不同的质量类别而异 ,并应符合详细规范的规定 。

　　对各类别的最低要求如下 :

　　Ⅰ 类 — 该类器件符合 Ⅱ类和 Ⅲ类鉴定批准要求 。各批都符合包括功能试验在内的 A 组检验要求 。每三个月对一批进行相互连接能力检验 ,应符合要求 。 每年进行一次 B 组和 C组检验 ,均应符合要求(见 5. 11. 2) 。

　　Ⅱ类 — 该类的批符合 A组和 B组逐批检验要求以及 C组周期检验要求 。

　　Ⅲ类 — 该类的批需进行 100%筛选 ,并符合 A组和 B组逐批检验要求以及 C组周期检验要求 。

　　空白详细规范应规定对以上各类的最低要求 。详细规范可以包括在总规范或空白详细规范中没有的 ,包括筛选在内的补充要求 。

　　4.5 筛选

　　筛选是对一批中所有器件进行的检验和试验 。

　　当详细规范有要求时 ,应按空白详细规范的有关表中所给出的序列之一种 ,对提交批中的全部器件进行筛选 ,并剔除全部有缺陷的器件 。 只有当上述筛选的序列与公认的失效机理无关或有矛盾时 ,才采用未规定的其他筛选序列 。 当空白详细规范的有关表中给出的筛选程序的一部分构成了制造工序的一部分时 ,则不必重复这些过程 。

　　4.6 操作

　　见 IEC 60747-1第 Ⅸ章 。

　　当含有有害物质的情况下应有警示作用的标识 。

　　5 质量评定程序

　　5. 1 总则

　　质量评定按照下列顺序进行 :

　　a) 制造商的认可 ;

　　b) 鉴定批准 ;

　　c) 质量一致性检验 ;

　　d) 一致性认证 。

　　质量一致性检验细分为 A 组 、B组 、C组检验 ,按照 5. 11. 2 的规定进行逐批检验或周期检验 。在某些情况下也可以规定 D组试验 ,例如为了进行鉴定批准 。

　　5.2 鉴定批准和/或能力批准的资格

　　当满足用来说明鉴定批准(QA) 、交货放行及其有效性程序的 IEC QC 001002-3:2005第 3 章 —电子元器件质量验证的程序规则时 ,则这种器件被认为有资格进行鉴定批准和/或能力批准 。

　　5.3 初始制造阶段

　　初始制造阶段在空白详细规范中规定 。

　　5.4 商业保密信息

　　如果某部分生产过程属于商业秘密 ,则应进行适当确认 ,而指定的管理代表应向监督检查机构证明IEC QC 001002-3:2005的 2. 3. 3. 1 中程序规则的要求已经得到满足 。

　　5.5 检验批的构成

　　见 IEC QC 001002-3:2005 中 3. 3. 1规定的程序规则 。

　　5.6 结构相似器件

　　见 IEC QC 001002-3:2005 中 3. 3. 2规定的程序规则 。

　　5.7 零部件

　　见 IEC QC 001002-3:2005 中 5. 2. 3规定的程序规则 。

　　5. 8 交货放行的有效性

　　见 IEC QC 001002-3:2005 中 3. 2. 2规定的程序规则 。

　　5.9 鉴定批准试验

　　制造商可依照空白详细规范给出的检验要求 ,选用程序规则 IEC QC 001002-3:2005 的 3. 1. 4 中方法 a) 、b)或 c) 。

　　样品可由适当的结构相似的器件组成 。

　　在详细规范中要求的所有测量都应该被记录下来 。

　　检验报告应该包含一份所有组和分组测试结果的总结 ,包括参加测试的器件数和测试失效器件数 。这个总结要由记录数据得出 。制造商应该保留所有测试数据 , 以便需要时提交给监督检查机构 。

　　5. 10 鉴定批准的授予

　　见 IEC QC 001002-3:2005 中 3. 1. 5 规定的程序规则 。

　　5. 11 质量一致性检验

　　5. 11. 1 总则

　　质量一致性检验应由 A组 、B组 、C组和当有规定时的 D组检查和试验组成 。对于 B 和 C组检验 ,样品应由结构相似器件组成 。用于周期性检验的样品应从已经通过 A 和 B 组检验的一批或几批中抽取 。每个器件都应通过详细规范中要求的 A组测试 。

　　5. 11.2 组和分组的划分

　　以下组和分组用于详细规范的制定 。

　　5. 11.2. 1 A 组检验 (逐批)

　　本组规定了逐批进行的为评定器件主要性能的 目检 、电学和光学参数及显示质量测量 。 除非另有规定 ,样品不应由结构相似器件组成 。A组检验分为以下几个分组 :

　　a) A1分组

　　本分组由 6. 2. 1 中规定的目检组成 。

　　b) A2分组

　　本分组由对器件主要电学和光学性能的测量组成 。

　　c) A3分组

　　本分组由对器件主要显示性能的测量组成 。

　　d) A4和 A5分组

　　可以不要求这些分组 。它们由对器件次要性能的测量组成 。选择 A4分组还是 A5分组取决于要在哪一个质量等级上进行这些测量 。

　　5. 11.2.2 B 组检验 (逐批 , Ⅰ 类除外)

　　本组规定了用以评定器件其他性能所采用的程序 ,包括正常情况下在一周内能够完成的或者按有关的空白详细规范中规定的电学 、光学参数和显示质量测量及机械 、气候和耐久性试验 。

　　5. 11.2.3 C 组检验(周期)

　　本组规定了周期性进行的用以评定器件其他性能所采用的程序 ,包括适合于每三个月或每十二个月或按有关空白详细规范中规定进行的电学 、光学参数和显示质量测量及机械 、气候和耐久性试验 。

　　5. 11.2.4 B 组和 C 组的划分

　　为了能够比较 B组和 C组及在需要时(见 5. 11. 4)方便地从 B组转换到 C组或相反 ,B 组和 C组中相应的测试被分入相同编号的分组 。

　　a) B1/C1分组

　　包括控制器件尺寸互换性的测量 。

　　b) B2/C2分组

　　包括为了评定器件设计的电学和光学性能进行的测量 。

　　c) B3/C3分组

　　包括为了评定器件设计的显示性能进行的测量 。

　　d) B4/C4分组

　　包括在不同电压 、电流 、温度和光学条件下对器件在 A组中已测试过的某些电学 、光学和显示性能进一步评定的测量 。

　　e) B5/C5分组

　　适用时 ,包括对器件额定参量的验证 。

　　f) B6/C6分组

　　包括为了评定器件机械强度进行的试验 。

　　g) B7/C7分组

　　包括为了评定器件互连能力进行的试验 。

　　h) B8/C8分组

　　包括为了评定器件承受如温度变化等气候应力能力进行的试验 。

　　i) B9/C9分组

　　包括为了评定器件承受如振动 、冲击等机械应力能力进行的试验 。

　　j) B10/C10分组

　　包括为了评定器件承受长期潮湿能力进行的试验 。

　　k) B11/C11分组

　　包括为了评定器件在极限温度存储条件下的电学和光学性能进行的试验 。

　　l) B12/C12分组

　　包括为了评定器件在不同气压条件下的性能进行的试验 。

　　m) B13/C13分组

　　包括为了评定器件在耐久性测试中失效特性进行的试验 。

　　n) B14/C14分组

　　包括标志的持久性的试验 。

　　这些分组并不是所有的都需要 。应在空白详细规范中规定需要的分组 。

　　5. 11.2.5 D 组检验

　　本组规定了每隔十二个月或仅供鉴定批准时所要执行的程序 。

　　5. 11.3 检验要求

　　5. 11.3. 1 批拒收判据

　　没有满足 A组或 B组的质量一致性检验的批不能被接收 。如果器件在质量一致性检验过程中没能通过某个分组中的一项试验 ,将导致批被拒收 ,质量一致性检验过程也就此终止 ,该批应被认为是 A组和 B组中的拒收批 。如果批没有满足质量一致性检验要求而撤回 ,并且也未被重新提交 ,则它应被认为是一个拒收批 。

　　5. 11.3.2 重新提交批

　　在技术上可能的情况下 ,经过返工的并重新提交质量一致性检验的失效批应只包含原来批中的器件 ,并且对于每个检验组(A组和 B 组) 只能重新提交一次 。重新提交的批应与新的各批分开 ,并应清楚地标明是重新提交的批 。重新提交的批应随机抽样 ,并按照 A组的所有检验判据进行检验 。

　　5. 11.3.3 试验设备故障或操作人员失误情况下的程序

　　如果器件被认为是由于试验设备故障或操作人员失误而导致失效 ,则应将失效记录在试验记录中

　　(但在征得 SI同意的情况下 ,也可不记入 CRRL) ,并将该记录连同一份关于为什么不计作失效的完整说明提交给 SI。

　　总检查员应决定是否将取自同一检验批中的替代器件补充到样品中 。替代器件应经受失效器件在失效之前所进行的相同的试验 ,并经受失效器件按规定将要进行的剩余试验 。

　　5. 11.3.4 周期检验失效时的程序

　　当 B组检验失效 ,则相应的 C组检验也是无效的(见 5. 11. 2. 4) 。如果并非是由于器件故障或操作人员失误所造成的周期检验失效 ,则按照 IEC QC 001002-3:2005的 3. 1. 8 中的程序规则进行处理 。

　　5. 11.4 简化检验的补充程序

　　5. 11.4. 1 B 组

　　可采用一种特殊的简化检验程序 ,允许制造商采用最长 3 个月的间隔时间内对 B组全部分组每隔三批检验一批 , 以取代逐批进行的 B组的正常检验 。这种特殊的简化检验程序适用于每个符合要求条件的分组 。

　　采用简化检验的条件是连续 10批通过 B 组检验 。 在简化检验过程中 , 如果出现样品不符合某个分组的检验时 ,则应恢复到 B组的正常检验 。

　　5. 11.4.2 C 组

　　当周期检验的时间间隔规定为 3个月时 ,如果三个连续的周期检验都通过了 ,则检验周期可以延长为 6个月 。在延长间隔时间程序中 , 当出现样品不符合某个分组的检验时 ,则应恢复到正常的 3个月间隔时间 (见 5. 11. 3. 4) 。

　　5. 11.5 小批量抽样要求

　　当一个批量等于或小于 200,应采用符合附录 A适当要求的以下程序 。

　　对于规定的 AQL体系 ,应首先从表 A. 3来选择等价的 LTPD。

　　a) 非破坏性试验

　　— 对于非破坏性试验 ,应 100%检查器件 ;或

　　— 从表 A. 2 中选择适当的 LTPD一次抽样方案 ;或

　　— 采用适当的 LTPD二次抽样方案 。

　　b) 破坏性试验

　　— 从表 A. 2 中选择适当的 LTPD一次抽样方案 ;或

　　— 适当的 LTPD二次抽样方案 。

　　5. 11.6 放行批的证明记录 (CRRL)

　　放行批的证明记录(CRRL) 应按照制造商和用户间的协议来准备 。IEC QC 001002-2: 2005 的 附录 B 中有相应的资料信息 。

　　5. 11.7 经受破坏性或非破坏性试验的器件交货

　　在空白详细规范中 ,破坏性试验标记为(D) 。经过破坏性试验的器件不能包含在交货批中 。 经过了非破坏性环境试验的器件 ,如果再次经过 A组检验并且合格 ,则可以交货 。

　　5. 11. 8 延期交货

　　在交货之前超过规定期限的器件 , 在整批或部分要交货时 ,应经受有关的空白详细规范规定的 A

　　组检验和 B组的互连能力试验 。

　　5. 11.9 交货的补充程序

　　制造商可提供符合比所要求的更为严格评定级别检验的器件 。

　　5. 12 统计抽样程序

　　对于 A、B 和 C组检验 ,应采用 AQL或 LTPD抽样程序 。详细规范应规定使用哪一种程序 。

　　5. 12. 1 AQL抽样方案

　　见 GB/T 2828. 1—2012、IEC 60410: 1973和 ISO 2859-10。 可采用三种抽样方案 :一次抽样方案 、二次抽样方案和多次抽样方案 。 当几种方案都适用于给定的 AQL和代码字母时 ,可采用任何一种 。

　　5. 12.2 LTPD 抽样方案

　　见附录 A。

　　注 : 作为 LTPD抽样方案的一个替代方案 ,IEC 61193-2:质量评定体系 第 2部分 : 电子元器件及包装的检查抽样方案的选择和应用已经发布 。

　　5. 13 耐久性试验

　　耐久性试验应在详细规范中规定 。

　　5. 14 规定失效率的耐久性试验

　　本部分采用的失效率定义为以每 1 000 h 的百分数表示的 LTPD。

　　5. 14. 1 总则

　　具有一定失效率的耐久性试验应在详细规范中说明 。器件在最大额定值或额定值范围内进行的耐久性试验应认为是非破坏性的 。

　　5. 14.2 样品选择

　　耐久性试验样品应从检验批中随机抽取 (见附录 A) 。对于 1000h试验的样品量应由制造商从规定失效率栏(见表 A. 1)或实际批量栏(见表 A. 2)中选择 。

　　合格判定数应与所选择的特殊的样品量相对应 。

　　5. 14.3 失效

　　不符合耐久性试验规定的一个或多个终点极限值的器件 ,应被认为失效 。如果样品失效 ,制造商可终止试验 。

　　5. 14.4 耐久性试验时间和样品量

　　当规定了失效率时 ,耐久性试验时间初始应为 1000h。一旦一批通过了 1000h试验 ,就可根据详细规范中的规定将耐久性试验缩短为某个时间长度 。

　　5. 14.5 发现的失效数超过合格判定数时采用的程序

　　如果在耐久性试验中发现的失效数超过了合格判定数 ,制造商应选择下列方案之一 :

　　a) 撤回整批 ;

　　b) 按照 5. 14. 5. 1追加样品 ;

　　c) 如果最初选择的试验时间小于 1 000 h,则按照 5. 14. 5. 2将试验时间延长至 1 000 h;

　　d) 按照 5. 11. 3. 2筛选此批并重新提交 。

　　5. 14.5. 1 追加样品

　　对于每次提交 ,该方案只能采用一次 。 当选择该方案时 ,新的总样品量(初始的加上追加的)应由制造商从表 A. 1规定的失效率或表 A. 2规定的实际批量栏中选取 。应从原批中选择一定量的追加器件 ,以足以增加样品达到新选择的总样品量 。新的合格判定数应与所选择的新的总样品量相对应 。追加的样品应经受与初始样品相同的耐久性试验条件和时间 。如果发现总的不合格数(初始的加上追加的)不超过总样品的合格判定数 ,则该项试验合格 ;如果发现总的不合格数超过新的合格判定数 ,则判定该项试验不合格 。

　　5. 14.5.2 耐久性试验时间延长

　　如果采用的耐久性试验时间小于 1 000 h,并且初始样品中发现的不合格数超过了合格判定数 ,制造商可以不追加样品,而将所有初始样品的试验时间延长到 1 000 h,并根据表 A. 1 或表 A. 2 确定一个新的合格判定数 。新的合格判定数应与规定栏中小于或等于试验样品量的最大抽样量相对应 。在初始阶段试验失效的器件被认为等同于 1 000 h 试验失效 的 器 件 。 如 果 发 现 的 不 合 格 数 超 过 此 合 格 判 定数 ,则认为该项试验不合格 。

　　5. 15 加速试验程序

　　根据适当的理论分析与实验数据 ,确定出加速因子 ,就可以采用加速试验 。

　　5. 16 能力批准程序

　　按规定 。

　　6 试验和测量程序

　　6. 1 标准条件和一般预防措施

　　6. 1. 1 标准条件

　　除非另 有 规 定 , 所 有 测 量 均 在 GB/T 22181. 21—2008、GB/T 22181. 22—2008、GB/T 22181. 23— 2012 中给出的大气条件下(见 4. 2)完成 。

　　测量也可在其他温度条件下进行 ,只要能使监督检查机构确信在环境温度为 25 ℃ ± 1 ℃ 、相对湿度为 48% ~ 52%之间(如相对湿度是重要的)测试时器件仍能符合详细规范的规定 。

　　6. 1.2 一般预防措施

　　应采取通常的机械和静电损害预防措施以将测试误差减小到最小并避免损坏器件 。对静电敏感器件的一般预防措施由 IEC 60747-1给出 。

　　6. 1.3 测量精度

　　详细规范中规定的极限值是绝对值 。在确定实际测量极限时 ,应考虑测量误差 。

　　6.2 物理检查

　　6.2. 1 目检

　　除非另有规定 , 目检应在正常的照明条件下进行 。应检查以下各项的正确性 :

　　a) 标志和清晰度 ;

　　b) 器件外观 。

　　6.2.2 尺寸

　　应按规定的图纸检查尺寸 。SJ/T 11378—2008给出了典型的等离子体显示模块图 。

　　6.3 电学、光学和显示性能测量

　　电学 、光学和显示性能测量的标准条件在 6. 1. 1 及 GB/T 22181. 21—2008、GB/T 22181. 22—2008、 GB/T 22181. 23—2012中进行了规定 。

　　电学、光学和显示性能测量方法应与 GB/T 22181.21—2008、GB/T 22181.22—2008、GB/T 22181.23— 2012中 的 规 定 一 致 。 当 需 要 时 可 采 用 这 些 方 法 , 并 按 照 详 细 规 范 的 规 定 进 行 。 未 包 括 在GB/T 22181. 21—2008、GB/T 22181. 22—2008、GB/T 22181. 23—2012中的其他测量方法应在有关详细规范中规定 。

　　6.4 气候和机械试验

　　气候和机械耐久性试验方法应与 SJ/T 11379—2008中的方法一致 。 当需要时可采用这些方法 ,并按照详细规范的规定进行 。根据 5. 11. 7,指明这些试验是 “破坏性的 ”或 “非破坏性的 ”。

　　当需要进行强制性试验时 ,应在空白详细规范中予以规定 。对于其他不包含在 SJ/T 11379—2008中的气候和机械试验 ,应在有关的详细规范中规定 。

　　对于涉及到观查或应用外力来定位器件的试验方法 ,其方位和施力的方向应与 SJ/T 11379—2008中图 2一致 。

　　6.5 替代试验方法

　　所有规定 的 测 量 应 采 用 GB/T 22181. 21—2008、GB/T 22181. 22—2008、GB/T 22181. 23—2012、 SJ/T 11379—2008或详细规范中规定的方法进行 。如果采用了可给出等效结果的替代方法 ,在测试报告中应明确注明 。

　　6.6 耐久性试验

　　按规定 。

　　附 录 A

　　(规范性附录)

　　批允许不合格品率(LTPD)抽样方案

　　A. 1 总则

　　以下规定的程序适用于所有质量一致性要求 。

　　A. 1. 1 样品的抽取

　　样品应从检验批中随机抽取 。对于连续生产的情况 , 如果检验批满足批的构成要求 ,则在生产期间 ,制造商可自行按有规律的周期方式抽取样品 。

　　A. 1.2 失效

　　器件在一个分组的一项或多项试验中测试失效应被记为一次失效 。

　　A.2 单批抽样法

　　质量一致性检验资料(样品量和发现的不合格品数)应从一个单一检验批中累计 , 以证明是否符合各个分组的判据 。

　　A.2. 1 样品量

　　每个分组的样品量应根据表 A. 1 或表 A. 2 确定 ,并应符合规定的 LTPD。制造商可 自行选取比要求更多的样品量 。然而 , 允 许 的 失 效 数 不 应 超 过 表 A. 1 或 表 A. 2 中 与 选 择 的 样 品 量 相 应 的 合 格 判定数 。

　　在表 A. 2 中 ,用于确定样品量的 LTPD栏应是数量上最接近实际提交批量的那个批量栏 ,如果实际批量介于表中两个批量之间 ,则制造商可自行采用相邻批量栏中的任一栏 。 在表 A. 2 中 , 如果适用的批量栏不包含一个等于或小于规定值的 LTPD,则应采用 100%检验 。在表 A. 2 中 ,应采用数量最接近规定 LTPD值的适用批量栏中的 LTPD来确定样品量 。

　　A.2.2 接收程序

　　对于首次抽样 , 应 选 择 一 个 合 格 判 定 数 , 并 根 据 规 定 的 LTPD 抽 取 相 应 数 量 的 器 件 进 行 试 验 (见 5. 14. 2) 。如果第一批样品中 发 现 的 不 合 格 品 数 小 于 或 等 于 预 选 的 合 格 判 定 数 , 则 该 批 应 被 接 收 。如果发现的不合格品数超过了预选的合格判定数 ,则可选择追加样品使总样品符合 5. 14. 2。表 A. 1 或表 A. 2适用于给定检验批的 给 定 分 组 的 第 一 次 抽 样 , 也 适 用 于 同 一 批 和 各 批 提 交 的 分 组 的 以 后 各 次抽样 。

　　A.3 追加样品

　　制造商可以增加一个追加量到初始样品中 ,但对于任何一个分组只能追加一次 ;追加样品应进行分组的全部试验 。 总样品量(初始样品和追加样品) 应根据由表 A. 1 或表 A. 2 选择的新的合格判定数来确定 。

　　表 A. 1 LTPD抽样方案

　　保证不合格品率等于规定 LTPD的批将不被接收的最小试验样品量(一次抽样),置信度为 90%

　　表 A. 1 (续)

　　GB/T 22181.5—2015

　　表 A.2 等于或小于 200的小批量超几何抽样方案

　　GB/T 22181.5—2015

　　表 A.2 (续)

　　A.4 多重判据

　　当一组样品有一个以 上 的 合 格 判 据 时 , 一 个 分 组 中 的 所 有 样 品 应 对 应 于 分 组 中 的 所 有 判 据 。 表A. 1 中 , 合格判定数应与适用的 LTPD栏中小于或等于所使用样品量的最大样品量相对应 。 表 A. 2中 ,合格判定数应与所使用样品量相应的批量栏中规定的 LTPD值相对应 。

　　A.5 100%检验

　　在制造商自愿时 ,允许对于不认为是 “破坏性 ”的那些分组进行批的 100%检验 。如果发现该批的不合格品百分率超过了规定的 LTPD值 ,则应认为该批通不过该分组的检验 。在 100%检验的那些批重新提交时也应进行 100%检验 ,并应按加严检验的 LTPD要求 。

　　A.6 加严检验

　　加严检验应按照表 A. 1 或表 A. 2 中比规定的检验标准严一级的 LTPD进行 。

　　表 A.3 AQL和 LTPD抽样方案

　　表 A. 3 给出了 AQL和 LTPD值 ,对于数量为 150 000以下的批量 ,用这两种方案均足以保证维持良好的平均出厂质量极限 。应注意与 LTPD 方案相比 ,在 AQL方案中极限质量保护随批量变化相对较大 。

　　IEC 0.3: 格(或判) c22. —, 验.1择、,于。

　　如果 LTPD抽样方案的合格判定数的最大值不大于 4,则可采用表 A. 3。

　　附 录 B

　　(资料性附录)规范的基本描述

　　B. 1 总则

　　电子元器件规范中的多数必要信息对于多个产品门类是通用的 , 同样地 ,在一个产品门类中信息适用于多个分门类产品,例如 :

　　— 测试条件 、严酷度 、额定值 、尺寸和试验要求的优选值对于一个门类产品或多个门类产品或分门类产品通常是共同的 ;

　　— 包含部分质量评定程序(即试验分组 、检验等级和接收判据) 的试验程序对于一个门类产品或分门类产品可以是共同的 。然而 ,在一个门类产品或分门类产品中可采用多个试验程序 ,每一个相应于一个指定的应用或多个应用 。

　　为避免不必要的重复和达成必要的一致性 ,选用标准的优先级别为 :

　　a) 详细规范 ;

　　b) 空白详细规范 ;

　　c) 分规范 ;

　　d) 总规范 ;

　　e) 基础规范 。

　　B.2 基础规范

　　基础规范是那些特定主题下包含对所有电子元器件或若干电子元器件门类所通用的信息的规范 。以下是属于此类规范的 IEC标准的例子 :

　　IEC 60062:2004 电阻器和电容器标志代码

　　IEC 60063:1963 电阻器和电容器优先数系

　　IEC 60068 环境试验

　　IEC 60134:1961 电子管 、电子阀和类似半导体器件的额定值制

　　IEC 60410:1973 计数检查抽样方案和程序

　　ISO 9001:2008 质量管理体系 要求

　　B.3 总规范

　　一些项目如术语和测试方法等对一个门类产品是通用的 。此信息可被包括在总规范中 ,每一个涵盖一个门类产品或分门类产品 。

　　B.4 分规范

　　在某些情况下 ,将一级涵盖一个分门类产品的文件放入规范结构中可带来方便 。此文件被作为 一个 “分规范 ”,并且包括含有测试方法 、测试样品和接收标准 、严酷度及尺寸和特性优选值的选择的测试程序 。

　　B.5 空白详细规范和通用空白详细规范

　　为了指导与详细规范制定有关的内容 ,每次需要时应提供空白详细规范 。 它们规定了在详细规范中应采用的布局和给出的信息 。此指导对尚未制定详细规范的体系是非常重要的 。

　　通用空白详细规范是当已有的空白详细规范未能覆盖新技术或新应用的要求时被采用的空白详细规范 。

　　一些技术(如印刷线路板)采用一个能力批准用详细规范(CapDS) 。

　　能力批准用详细规范定义了能力认证的所有要素 ,是关于哪种能力得到承认的文件 。 能力详细规范应至少包含技术 、材料 、完工和能力认证测试计划 。

　　B.6 详细规范

　　详细规范直接或作为其他文件的参考给出对一个给定组成部分或组成范围所必需的所有信息 ,并确保其与质量评定要求相一致 。

　　客户详细规范(CDS)要求客户与供应商/制造商达成一致 ,并且当与总规范和分规范一起应用时应充分地描述产品(零部件) 。此外 ,客户详细规范只能在制造商的认可能力范围内应用 。