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SJ/T 2658.10-2015 半导体红外发射二极管测量方法第10部分：调制带宽

英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 10:Modulation bandwidth
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提取码：56vn
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资料介绍

规定了半导体红外发射二极管调制带宽的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
本部分适用于半导体红外发射二极管。

SJ/T 2658.11-2015 半导体红外发射二极管测量方法第11部分：响应时间

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