您当前的位置：首页 > T/CNS 82-2022 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法 > 下载地址2
T/CNS 82-2022 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法
- 名 称：T/CNS 82-2022 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法 - 下载地址2
- 类 别：核工业标准
- 下载地址：[下载地址2]
- 提 取 码：
- 浏览次数：3
发表评论 加入收藏夹 错误报告目录| 新闻评论（共有 0 条评论） |
资料介绍
本文件规定了宇航用静态随机存储器（Static Random-Access Memory,SRAM）总剂量(totalionizing dose,TID)效应试验方法。
本文件适用于评估宇航用SRAM的抗总剂量效应能力，抗辐射加固SRAM试验验证，SRAM总剂量效应研究。
本文件适用于评估宇航用SRAM的抗总剂量效应能力，抗辐射加固SRAM试验验证，SRAM总剂量效应研究。
