您当前的位置:首页 > GB∕T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求 > 下载地址1
GB∕T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
- 名 称:GB∕T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求 - 下载地址1
- 类 别:航空航天民航
- 下载地址:[下载地址1]
- 提 取 码:
- 浏览次数:3
新闻评论(共有 0 条评论) |
资料介绍
GB∕T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
本文件规定了CMOS集成电路抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。本文件适用于基于体硅/SOI CMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计。
标准号:GB/T 41033-2021
标准名称:CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
英文名称:Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
发布日期:2021-12-31
实施日期:2022-07-01
起草人:刘智、葛梅、谢成民、王斌、于洪波、岳红菊、姚思远、李海松、耿增建、胡巧玉
起草单位:中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所
归口单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
本文件规定了CMOS集成电路抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。本文件适用于基于体硅/SOI CMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计。
标准号:GB/T 41033-2021
标准名称:CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
英文名称:Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
发布日期:2021-12-31
实施日期:2022-07-01
起草人:刘智、葛梅、谢成民、王斌、于洪波、岳红菊、姚思远、李海松、耿增建、胡巧玉
起草单位:中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所
归口单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
相关推荐
- GB/T 42627-2023 机械安全 围栏防护系统 安全要求
- GB/T 7631.11-2014 润滑剂、工业用油和有关产品(L类)的分类 第11部分:G组(导轨)
- GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法
- GB/T 32978-2016 碳化硅质高温陶瓷过滤元件
- GB/T 4459.3-2000 机械制图 花键表示法
- GB/T 36964-2018 软件工程 软件开发成本度量规范
- GJB 1205-91 军用滚动轴承通用规范
- GB/T 51094-2015 工业企业湿式气柜技术规范
- GB/T 37730-2019 Linux服务器操作系统测试方法
- GB 11368-1989 齿轮传动装置清洁度