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GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
- 英文名称：Semiconductor integrated circuits
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资料介绍
本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。
本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。
本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。
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