GB/T 26594-2011 无损检测仪器 工业用X射线管性能测试方法

　　ICS 19. 100 N 78

　　中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准

　　GB/T 26594—2011

　　无损检测仪器

　　工业用 X 射线管性能测试方法

　　Non-destructivetestinginstruments—

　　PropertiestestmethodsofindustrialX-raytube

　　2011-06-16发布 2011-11-01实施

　　中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会

　　

　　发

　　

　　布

　　GB/T 26594—2011

　　目 次

　　前言 Ⅲ

　　1 范围 1

　　2 规范性引用文件 1

　　3 术语和定义 1

　　4 测试条件 2

　　4. 1 测试设备 2

　　4. 2 测试原理图 3

　　4. 3 测试规则 3

　　5 试验方法 4

　　5. 1 灯丝特性测试 4

　　5. 2 X射线管最高工作管电压的测试 4

　　5. 3 X射线管最高反向峰值电压的测试 4

　　5. 4 X射线管超电压的测试 4

　　5. 5 X射线管灯丝发射特性的测试 4

　　5. 6 X射线管阳极电流稳定性的测试 4

　　5. 7 X射线管最大功率的测试 5

　　5. 8 X射线管有效焦点尺寸的测试 5

　　5. 9 X射线管辐射能通量密度均匀性的测试 5

　　5. 10 X射线管 X射线剂量率的测试 5

　　5. 11 X射线管固有滤过的测试 5

　　5. 12 X射线管光谱纯度的测试 6

　　5. 13 栅控 X射线管阳极电流截止特性的试验 8

　　5. 14 栅控 X射线管灯丝栅极间耐压试验 8

　　附录 A (规范性附录) 焦点针孔射线照相法 10

　　附录 B (规范性附录) 焦点狭缝射线照相法 14

　　附录 C (资料性附录) 电气原理简图 16

　　附录 D (资料性附录) 焦点标称值的容许值 20

　　Ⅰ

　　GB/T 26594—2011

　　前 言

　　本标准附录 A、附录 B为规范性附录 。

　　本标准附录 C、附录 D为资料性附录 。

　　本标准由中国机械工业联合会提出 。

　　本标准由全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC122)归 口 。

　　本标准负责起草单位 :辽宁仪表研究所 、丹东市荣华射线仪器仪表有限公司 、深圳市华测检测技术股份有限公司 。

　　本标准参加起草单位 :丹东市无损检测设备有限公司 、丹东市万全无损检测仪器厂 。

　　本标准主要起草人 :徐波 、荣吉萍 、钱峰 、董殿刚 、张宏 。

　　Ⅲ

　　GB/T 26594—2011

　　无损检测仪器

　　工业用 X 射线管性能测试方法

　　1 范围

　　本标准规定了对测试条件的要求和对工业用 X射线管(以下简称 X射线管) 的技术参数的测试条件和测试方法 。

　　本标准适用于各种类型工业用 X射线管(不包括脉冲式) 。

　　2 规范性引用文件

　　下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款 。凡是注 日期的引用文件 ,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准 ,然而 ,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本 。凡是不注日期的引用文件 ,其最新版本适用于本标准 。

　　GB/T 2421—1999 电工电子产品基本环境试验规则 第 1部分 :总则

　　GB/T 25758. 5—2010 无损检测 工业 X射线系统焦点特性 第 5 部分 :小焦点和微焦点 X 射线管的有效焦点尺寸的测量方法

　　3 术语和定义

　　下列术语和定义适用于本标准 。

　　3. 1

　　灯丝特性 filamentcharacter

　　X射线管灯丝电流与灯丝电压的关系 。

　　3. 2

　　最高工作管电压 maximum workingtubevoltage

　　在半波自整流电路中 ,X射线管在额定阳极电流下 , 阳极与阴极之间所允许的最高正向阳极电压峰值 。

　　3. 3

　　最高反向峰值电压 highestreversepeak voltage

　　X射线管在规定的阳极电流下 , 阳极和阴极之间允许承受的最高反向峰值电压 。

　　3. 4

　　超电压 overvoltage

　　在规定的阳极电流和试验时间下 ,在 X射线管阳极和阴极之间加上按规定的超电压系数所确定的峰值电压 。

　　3. 5

　　灯丝发射特性 filamentemission character

　　X射线管在给定的管电压条件下 , 阳极电流与灯丝电流(电压)的关系 。

　　3. 6

　　阳极电流稳定性 stability ofanodecurrent

　　X射线管在规定工作条件下 ,并在规定的时间内 , 阳极电流最大变动量与其额定阳极电流值比值 。

　　1

　　GB/T 26594—2011

　　3. 7

　　最大连续功率 maximum continuouspower

　　能连续加载的最大功率 。

　　3. 8

　　最大短时功率 maximum short-timepower

　　每次短时间加载的最大允许功率 。

　　3. 9

　　光学焦点尺寸 opticsfocussize

　　X射线管的实际焦点在与有用线束中心 X射线方向相垂直的平面上的投影尺寸 。

　　3. 10

　　固有滤过 inherentfiltration

　　X射线管本身部件对 X射线的过滤 。用相当于等量过滤的铍 、铝或铜的厚度来表示 。

　　3. 11

　　辐射能量通量密度均匀性 radiation energy flux uniformity ofdose

　　X射线管在特定的有用射线输出区域上辐射强度的不均匀性 。 以 E来表示(其中M 为各测量点中辐射强度最大值 ,N 为最小值) 。

　　3. 12

　　剂量率 doserate

　　在规定的距离及方位上 , 在 规 定 的 电 压 、电 流 下 测 得 的 单 位 时 间 内 空 气 比 释 动 能 率 数 值 , 单 位 为Gy/h。

　　3. 13

　　灯丝栅极间耐压 grid voltagebearing offilament

　　栅控 X射线管的灯丝和栅极之间能承受规定的电压 。

　　3. 14

　　阳极电流截止栅压 cut-offgrid voltageofanodecurrent

　　栅控 X射线管在最高工作管电压并规定了灯丝电流(或电压)下 ,使阳极电流截止时的栅极电压 。

　　3. 15

　　X 射线光谱纯度 X-ray spectrum pureness

　　单色工作的 X射线管靶面材料杂质谱线对特征谱线 Kα1 的相对强度 , 以最强杂质谱线积分强度与靶面材料特征谱线 Kα1 积分强度之比来衡量 ,其比值称为杂质谱线相对强度 ,是衡量 X射线光谱纯度的重要指标 。

　　4 测试条件

　　4. 1 测试设备

　　4. 1. 1 X射线管电气测试用的各种设备应符合电气设备的规定标准 ,每台设备应有使用说明书 、仪表校验卡及有关技术资料 。

　　4. 1. 2 X射线管阳极与阴极接点之间的绝缘电阻应大于 5000MΩ。

　　4. 1. 3 测试设备应满足被测管的冷却要求 ,X射线管冷却方式有 :

　　a) 自然冷却 :X射线管附近不应有任何隔板屏蔽以及会引起 X射线管过热的其他零部件 。若被测管封闭在箱体内 ,则箱体上应有通风孔 。

　　b) 强制风冷 :若在测试标准或产品标准中没有专门规定冷却方法时 ,则气流应沿 X射线管轴向

　　2

　　GB/T 26594—2011

　　流过 ,冷却系统应有测量气体流速 、流量的仪器 ,其散热条件应符合在相关产品标准中的规定 。

　　c) 强制水冷 :对强制水冷的 X射线管 ,应装有水的循环系统和测量进水温度及水流量的仪器 ,其散热条件应符合在相关产品标准中的规定 。

　　d) 自然油冷 :其散热条件应符合产品标准的规定 。

　　e) 强制油冷 :对强制油冷的 X射线管 ,应装有油的循环系统和测量进油温度及油流量的仪器 ,其散热条件应符合在相关产品标准中的规定 。油的绝缘强度不应低于 35kV/2. 5 mm。

　　4. 1. 4 测量灯丝特性时 ,应使连接管子同管座之间的导线以及连接电压表与管座之间的导线电阻足够小 ,使其在导线上的压降不超过规定值的 0. 2% 。 当灯丝电流为产品标准规定值时 ,灯丝电压误差不应超过规定值 ±10% 。

　　4. 1. 5 当 灯 丝 用 交 流 供 电 时 , 电 源 的 非 线 性 失 真 系 数 如 影 响 到 测 量 灯 丝 电 压 的 最 大 允 许 误 差(>±1%)时 ,应进行修正 。

　　4. 1. 6 对测试电源的要求

　　4. 1. 6. 1 电源频率为 50Hz的交流电 , 当负载从零增加到最大值时 , 电源电压的变化应不大于 10% 。

　　4. 1. 6. 2 电源频率变动值应在规定值的 ±0. 5%以内 。

　　4. 1. 6. 3 电源在无负载时 , 电源电压的变动值应在规定值的 ±5%以内 , 而在一个项 目 的试验过程中 ,变动值应在 ±0. 5%以内 。

　　4. 1. 6. 4 电源无负载时 , 电压波形的瞬时值和相应的理想正弦波形瞬时值之差与理想的正弦波形相应瞬时值之比应在 ±5%以内 。

　　4. 1. 6. 5 应用三相电源时 ,每两根相线间的阻抗和其他两根相线间的阻抗的差与该二阻抗平均值之比应在 ±10%以内 。

　　4. 1. 6. 6 电源的高压装置应接地良好 ,接地电阻应不大于 4 Ω。

　　4. 1. 7 用于测量 X射线管的阳极电流、灯丝电流、灯丝电压用的交流、直流电表的准确度不低于 1. 5 级 ,其他电表的准确度不低于 2. 5 级 。

　　其他测试设备选用的仪表量程 ,应保证被测值的读数大于满刻度的 1/3。测量灯丝电流(电压) 的仪表应使被测值的读数大于满刻度的 1/2。

　　4. 1. 8 X射线管电气测试用设备应符合有关安全技术要求 。

　　4. 1. 8. 1 测试设备应装有门开关及高压泄漏保护装置 。

　　4. 1. 8. 2 测试设备应有防 X射线措施 ,其泄漏的 X射线剂量不应超出国家规定的安全范围 。

　　4. 2 测试原理图

　　4. 2. 1 X射线管阳极电压的测量 ,在具体产品文件中未规定时 ,可采取下列方法之一 :

　　a) 从高压发生器的初级测出初级电压 ,然后根据高压发生器的负载特性曲线 ,得出 X 射线管的阳极电压 ;

　　b) X射线管的阳极电压经分压器分压后 ,用峰值表或示波器等测出 X射线管的阳极电压 。

　　4. 2. 2 测试 X射线管技术参数时常用的电原理图参见附录 C。

　　4. 3 测试规则

　　4. 3. 1 在测试 X射线管时 ,各电极电压应按下列顺序接通 :

　　a) 灯丝电压 ;

　　b) 栅极电压 ;

　　c) 阳极电压 。

　　电极电压的断开应与接通时的相反顺序进行或同时断开 。

　　4. 3. 2 测试强制冷却的 X射线管时 ,应先接通冷却系统 ,方可加上各极电压 ,测试完毕时 ,应先断开各

　　3

　　GB/T 26594—2011

　　极电压 。如无规定时 ,至少 3 min后方可断开冷却系统 。

　　4. 3. 3 旋转阳板 X射线管在阳极加高压前 ,应使阳极靶转速达到正常值 。

　　测试栅控 X射线管时 ,如没有说明栅极与灯丝间施加电压 ,则认为栅极与灯丝同电位 。

　　4. 3. 4 测试应在 GB/T 2421—1999中规定的正常试验条件下进行 。

　　4. 3. 5 在最高工作管电压 ,最高反峰压和超电压试验前 ,应对 X射线管进行预热 。

　　5 试验方法

　　5. 1 灯丝特性测试

　　施加在产品文件中规定灯丝电流 ,待电流表读数稳定后 ,读出电压表相对应的灯丝电压值 。原理见图 C. 6。

　　5. 2 X 射线管最高工作管电压的测试

　　施加在相关产品标准规定的灯丝电流(电压) ,按规定的预热时间预热后 ,施加最高工作管电压的一半时 ,调节灯丝电流(电压) ,使阳极电流达到产品标准规定的数值 。然后以不大于 10kV/min 的速度升至最高工作管电压 ,与此同时调节灯丝电流(电压) ,保持阳极电流不变 ,并维持在产品文件中规定的时间 。原理见图 C. 1~ 图 C. 5 中符合在相关产品标准中规定的任何一种 。

　　采用自整流电路时 ,X射线管接受的反向峰值电压不应超过产品文件所规定的最高反向峰值电压 。

　　5. 3 X 射线管最高反向峰值电压的测试

　　在半波自整流电路中 ,施加产品文件规定的灯丝电流(电压) ,按规定的预热时间预热后 ,施加最高反向峰值电压的 一 半 时 , 调 节 灯 丝 电 流 (电 压) , 使 阳 极 电 流 应 达 到 产 品 文 件 规 定 的 数 值 , 以 不 大 于10kV/min的速度升至最高反向峰值电压 , 与此同时调节灯丝电流(电压) ,保持阳极电流不变 ,并维持产品文件中规定的时间 。原理见图 C. 1。

　　5. 4 X 射线管超电压的测试

　　将 X射线管装在 X 射 线 管 测 试 台 上 按 照 规 定 的 工 作 规 程 使 其 达 到 表 1 中 的 规 定 , 进 行 超 电 压试验 。

　　表 1 X 射线管超电压试验

　　额定管电压 U kV

　　超过额定管电压百分数

　　%

　　持续时间min

　　试验管电流

　　直接强迫循环冷却

　　非直接强迫循环冷却

　　<200

　　200≤U≤300

　　U>300

　　10

　　5

　　2

　　5

　　5

　　5

　　3

　　3

　　3

　　额定阳极电流的 80%

　　5. 5 X 射线管灯丝发射特性的测试

　　将高压时间控制器调在允许条件下 ,调节灯丝电流(电压)至某一值 ,施加给定的管电压 ,如管电压

　　在加载时下跌 ,则应提高管电压 ,再次加载 ,直至管电压在加载时仍符合给定的数值 ,并读取相应阳极电

　　流值 。用同样方法可测出在(一组) 给定管电压下的(一组) , 阳极电流 Ia=f(If)(灯丝电流) 曲线 。 原

　　理见图 C. 1~ 图 C. 5 中符合产品文件规定的任何一种 。

　　5. 6 X 射线管阳极电流稳定性的测试

　　施加产品文件规定的灯丝电流(电压)值 ,按规定预热时间预热后 ,升高管电压至规定值 , 同时快速调节灯丝电流(电压)使阳极电流应达到产品文件规定值 ,开始计时 ,在规定的时间内 ,读出阳极电流最

　　4

　　GB/T 26594—2011

　　大变化量 。实验原理见图 C. 1~ 图 C. 5 中符合在相关产品标准中规定的任何一种 。

　　灯丝电源电压稳定度为 ±0. 2% 。

　　5. 7 X 射线管最大功率的测试

　　5. 7. 1 最大连续功率的测试

　　施加产品文件规定的灯丝电流(电压) ,按规定的预热时间预热后 ,施加产品文件中规定的管电压的一半时 ,调节灯丝电流(电压) ,使阳极电流达到在规定的管电压下最大连续功率所确定的电流值 ,然后以不大于 10kV/min的速度升至规定值 , 同时调节灯丝电流(电压) ,使阳极电流保持不变 。

　　5. 7. 2 最大短时功率的测试

　　参数预调 :将高压时间控制器调在比特定时间略小的时间上 ,参照产品文件中规定的 Ia=f(If) 曲线选定的灯丝电流(电压) ,经预热后 ,再加上产品文件规定的管电压 , 同时根据仪表指示的管电压和阳极电流值进行多次调节 ,使之符合产品文件规定值 ,然后切断高压 。

　　测试 :保持预调参数 ,将高压时间控制器调在产品文件中规定的特定试验时间上 ,然后接通高压进行试验 。试验时间及间隔次数应在产品文件中规定 。

　　5. 8 X 射线管有效焦点尺寸的测试

　　5. 8. 1 焦点针孔射线照相法见附录 A。

　　5. 8. 2 焦点狭缝射线照相法见附录 B。

　　5. 8. 3 小焦点、微焦点有效焦点尺寸测试见 GB/T25758. 5—2010

　　注 : 定向辐射 X射线管可按附录 A、附录 B所规定的测验方法进行 ,周向辐射 X射线管按具体型号产品文件规定的测定方法进行 , 出厂检验可查试验记录 。

　　5. 9 X 射线管辐射能通量密度均匀性的测试

　　5. 9. 1 结构分析用 X射线管各输出窗辐射强度均匀性的测试 。

　　5. 9. 1. 1 将 X射线胶片放置在紧靠射线输出窗口的不透光盒子内 。

　　5. 9. 1. 2 在产品文件中规定的条件进行一次曝光 。

　　5. 9. 1. 3 用密度计测量各窗口辐射场胶片密度的平均值(取 3~4 点)来测定该窗口辐射能量密度的大小 ,测量时应使每个测定点的区域不超过最大照射场尺寸的 5% ,胶片密度的拍摄要求见附录 A 中 A. 7。

　　5. 9. 1. 4 由各窗口测得的辐射场胶片密度的平均值来确定各输出窗辐射能量密度的不均匀性 。

　　5. 9. 2 周向辐射 X射线管射线强度均匀性的测试 。

　　在周向管测试台上进行 ,在 ϕ1. 2 m 圆筒状器具圆周上排布胶片 ,使周向管轴线与圆筒器具中心重合 ,胶片中心线与周向管 X射线辐射角中心面重合 ,在圆筒器具的圆周选四个均匀分布位置放胶片 ,选用适当的曝光参数拍片 ,使底片密度在 1. 1~ 1. 5 之间 ,用密度计测量四张胶片中线的密度值 ,取最大值与最小值之差 。原理见图 C. 1~ 图 C. 5 中符合产品文件规定的任何一种 。

　　5. 10 X 射线管 X 射线剂量率的测试

　　将剂量仪的探头放在产品文件规定的距离及位置上 ,在规定的电压 、电流下测试 , 当剂量仪有稳定的指示后读取剂量率值 。原理见图 C. 1~ 图 C. 5符合产品文件规定的任何一种 。

　　注 : 如在产品文件中尚未指定测试点的方位 ,则认为测试点位于射线束中心线上 ,并且认为在管外无其他衰减材料情况下测试(大气除外) 。

　　5. 11 X 射线管固有滤过的测试

　　测试装置原理图如图 1所示 。单位为 mm。

　　5

　　GB/T 26594—2011

　　图 1 固有过滤测试原理图

　　其中铍窗管与被测管的靶材和靶角相同 。如靶角不同 ,可以通过使射线束倾斜得到相同靶角 。

　　当被测管输出窗主要由铍或其他类似物质组成时 ,滤片宜用铍 。

　　当被测管最高工作管电压不超过 200kV 时 ,滤片宜用铝 。

　　当被测管最高工作管电压从 150kV~400kV 时 ,滤片宜用铜 。

　　测量时被测管与铍窗管测试条件完全相同(包括管电压 、电流 、距离 、位置) 。管电压为被测管最高工作管电压的一半(或由产品文件规定) , 阳极电流应在产品文件中规定 。

　　5. 11. 1 测出不同厚度滤片(Be、Al、Cu)与第一半价层的关系曲线(如图 2所示) 。

　　5. 11. 2 测出被测管的第一半价层值 A。

　　5. 11. 3 由图 2 曲线找出其相应的滤片厚度 B。

　　即 B值为被测 X射线管的固有过滤 。

　　图 2 滤片厚度与半价层关系

　　注 : 另一种测试方法是找出被测 X射线管窗口组成的代用物质 。 由该物质取代滤片 ,测出其第一半夹层值 , 由 图 2曲线找出其相应滤片的厚度 , 即得到被测管的固有过滤值 。

　　5. 12 X 射线管光谱纯度的测试

　　X射线光谱纯度测试的光路结构如图 3所示 。

　　光谱纯度的测试是在电压和电流稳定度应不大于 0. 2%的 X射线衍射仪上进行 。也可以采用电压和电流稳定度不大于 0. 2%的应用 X射线衍射原理(nλ= 2dsinθ)制成的其他装置上进行 。

　　其中 :

　　a) 光源 、分光晶面与接收狭缝 4之轴线互相平行 ;

　　b) 分光晶面与衍射仪轴心相重合 ;

　　c) 光源与接收狭缝 4应位于衍射仪圆周上 ;

　　d) 光源 F、狭 缝 1、S1 、2 固 定 不 动 , 狭 缝 3、S2 、4 及 计 数 管 V 以 2 倍 于 分 光 晶 面 的 角 速 度 同 步旋转 。

　　6

　　GB/T 26594—2011

　　F— 光源 ;

　　S1、S2 — 索洛狭缝 ;

　　1— 第一狭缝(开放) ;

　　2— 发散狭缝(1/60或 0. 02 mm) ;

　　3— 收敛狭缝(同 2) ;

　　4— 接收狭缝(0. 01 mm) ;

　　V— 计数管 。

　　图 3 光谱纯度测试光路结构示意图

　　将待测 X射线管装在衍射仪上(图 3F位置) ,在相关产品标准中规定的电参数条件下 ,测绘该 X射线管的谱线图 ,如图 4 或图 5所示 。

　　7

　　图 4 单色 X 射线管谱线 a

　　

　　图 5 单色 X 射线管谱线 b

　　5. 12. 1 检查谱线图

　　测得的谱线中 ,各特征线积分强度相对值应符合表 2 的规定(检查任意两个波长即可) 。各谱线所

　　在角 ,可按 nλ= 2dsinθ计算 ,λ为表(波)2(长) 。特征谱线积分强度对比值(K系)

　　靶材

　　特征谱线相对强度(K 系)及波长(10- 10 m)

　　α1

　　α2

　　β1

　　强度

　　波长

　　强度

　　波长

　　强度

　　波长

　　铜

　　100

　　1. 5405

　　46. 0

　　1. 5443

　　15. 8

　　1. 3921

　　铬

　　100

　　2. 2896

　　50. 6

　　2. 2935

　　21. 0

　　2. 0848

　　GB/T 26594—2011

　　表 2 (续)

　　靶材

　　特征谱线相对强度(K 系)及波长(10- 10 m)

　　α1

　　α2

　　β1

　　强度

　　波长

　　强度

　　波长

　　强度

　　波长

　　铁

　　100

　　1. 9359

　　49. 1

　　1. 9399

　　18. 2

　　1. 7565

　　钴

　　100

　　1. 7889

　　53. 2

　　1. 7927

　　19. 1

　　1. 6075

　　钨

　　100

　　0. 2089

　　47. 0

　　0. 2138

　　18. 1

　　0. 1843

　　铑

　　100

　　0. 6132

　　51. 1

　　0. 6176

　　25. 3

　　0. 5455

　　银

　　100

　　0. 5593

　　51. 7

　　0. 5637

　　24. 0

　　0. 4976

　　钼

　　100

　　0. 7092

　　50. 6

　　0. 7135

　　23. 3

　　0. 6322

　　镍

　　100

　　1. 6578

　　47. 6

　　1. 6616

　　17. 1

　　1. 5001

　　如果各特征谱线相对(d为分光体晶格常数),强(L)度:F偏离表(200之)2(2).比(0)例(28)数。10%以上时 ,则应重新调整测绘 。如铬靶管 Kα2 大

　　于 60. 6 或小于 40. 6 时 ,应加衰减片重测 。

　　5. 12. 2 计算方法

　　杂质谱线相对强度按式(1)计算

　　H …………………………( 1 )

　　式中 :

　　H— 杂质谱线相对强度 ;

　　Az— 最强杂质谱线积分强度 ;

　　At— 靶材特征谱线 Kα1 积分强度 。

　　注 1: 某波长谱线的积分强度 ,应以该线峰包线包围的面积计算 ,可用积分仪测量或以矩形近似法 计 算 。 每 一 矩 形

　　之宽度不应大于 3 mm ,也可以取衍射仪记录纸每一小格的宽度作为矩形宽度 。对图 5 可先算出 Kα (即 α1 +

　　α2 )总积分强度 ,再按表 2 比值折算出 Kα1 强度后 ,按式(1)计算杂质谱线相对 H 值 。也可以先算出 Kβ1积分强

　　度 ,再按表 2 比值折算出 Kα1 强度 。如果 Kα1 和 Kα2在其高次波(nλ= 2dsinθ中取 n= 2 以上时)可以分开 ,则可

　　在大角度(θ)处 ,扫描出高次谱线图 ,利用其同次波峰包线积分强度计算杂质谱线相对强度 H 值 。

　　注 2: 如果所得谱线图中 ,杂质谱线很小而难以计算积分强度时 ,可在该杂质谱线所在角附近 ,减小衰减率重新小范围扫描 ,利用其较大峰包线算出积分强度后 ,再缩小相应倍数即可 。

　　注 3: 本方法也适用于点焦点 X射线管光谱纯度测试 。

　　注 4: 若被测管之外形尺寸或冷却方式与现行衍射仪管套不相适应时 ,应设计配置专用管套 。

　　实验电路的电气原理见图 C. 1~ 图 C. 5 中符合产品标准规定的任何一种 。

　　5. 13 栅控 X 射线管阳极电流截止特性的试验

　　依次施加产品文件规定的灯丝电流(电压) 、阳极电流截止栅压及最高工作管电压 ,然后用 X 射线计量仪观察阳极电流是否截止 。

　　实验电路的电气原理见图 C. 5。

　　5. 14 栅控 X 射线管灯丝栅极间耐压试验

　　把测试电源输出电压从零逐步上升到产品文件规定值 ,并维持规定的时间 ,观察有无绝缘破坏的异常现象 。

　　实验电路的电气原理见图 6。

　　8

　　GB/T 26594—2011

　　图 6 灯丝栅极间耐压试验电路

　　9

　　GB/T 26594—2011

　　附 录 A

　　(规范性附录)

　　焦点针孔射线照相法

　　A. 1 针孔照相机

　　针孔照相机的针孔尺寸见表 A. 1。

　　表 A. 1 针孔尺寸

　　焦点标称值 f

　　尺寸(mm)

　　直径 D

　　mm

　　高度 h

　　mm

　　0. 3

　　f>1. 0

　　0. 030±0. 005

　　0. 100±0. 005

　　0. 075±0. 110

　　0. 500±0. 010

　　针孔光阑的主要尺寸如图 A. 1所示

　　图 A. 1 针孔光阑的主要尺寸