GB/T 26050-2024 硬质合金 金属元素含量的测定 X射线荧光光谱法
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资料介绍
ICS 77.160 CCS H 16
中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准
GB/T 26050—2024代替 GB/T 26050—2010
硬质合金 金属元素含量的测定
X 射线荧光光谱法
Hardmetals—Determination of contents of metallic elements—X-ray fluorescence
spectrometry
2024-09-29 发布 2025-04-01 实施
发
国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
布
GB/T 26050—2024
目 次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 原理 2
5 干扰元素 2
6 试剂 2
7 仪器与设备 2
8 样品 2
9 试验步骤 2
9.1 试料 2
9.2 平行试验 3
9.3 预处理 3
9.4 灼烧系数 3
9.5 试样样片的制备 3
9.6 标准样片的制备 4
9.7 测定 4
10 试验数据处理 4
11 允许差 4
12 试验报告 5
Ⅰ
GB/T 26050—2024
前 言
本文件按照 GB/T 1.1—2020《标准化工作导则 第 1 部分 :标准化文件的结构和起草规则》 的规定起草。
本文件代替 GB/T 26050 — 2010《 硬质合金 X 射线荧光测定金属元素含量 熔融法》。 与GB/T 26050—2010 相比,除结构调整和编辑性改动外,主要技术变化如下:
a) 更改了Cr、Fe、Ni、Ta、Ti、V的测定范围(见第1章,2010年版的第2章);
b) 更改了原理(见第4章,2010年版的第3章);
c) 删除了试剂无水过氧化钡、无水碳酸钡、无水四硼酸钠(见2010年版的5.1、5.2);
d) 增加了试剂无水四硼酸锂+偏硼酸锂混合熔剂(见6.2);
e) 更改了脱模剂(见6.6 ,2010年版的5.6);
f) 增加了“ 瓷舟、天平”(见7.8、7.9);
g) 增加了灼烧系数的计算(见9.4);
h) 更改了试验步骤(见第9章,2010年版的第8章);
i) 增加了试验数据处理(见第10章); 更改了数值修约规则(见第10章,2010年版的11.2);
j) 增加了“允许差” ,删除了偏差(见第11章,2010年版的11.1)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中国有色金属工业协会提出。
本文件由全国有色金属标准化技术委员会 (SAC/TC 243)归口。
本文件起草单位 :崇义章源钨业股份有限公司、 自贡硬质合金有限责任公司、株洲硬质合金集团有限公司 、厦门钨业股份有限公司 、南昌硬质合金有限责任公司 、 国标(北京 )检验认证有限公司、深圳市中金岭南有色金属股份有限公司韶关冶炼厂、广东省科学院工业分析检测中心、江西省钨与稀土产品质量监督检验中心。
本文件主要起草人: 钟志强 、徐国钻 、 张欣 、何红梅 、 王培 、 王英 、颜晓华 、龚斌 、 张晓丹、杨宇惠、吴爱华、张方、于磊、张强、何剑文、师世龙、李建国、袁冬梅、周明俊、陈浩楠。
本文件于 2010 年首次发布,本次为第一次修订。
Ⅲ
GB/T 26050—2024
硬质合金 金属元素含量的测定
X 射线荧光光谱法
1 范围
本文件描述了熔融后测定硬质合金中钴 、铬 、铁 、锰 、钼 、铌 、镍 、钽 、钛 、钒 、钨和锆含量的X 射线荧光光谱法,难熔金属碳化物中金属元素含量的测定也可参照执行。
本文件适用于铌 、钽 、钛 、钒 、钨和锆的碳化物及用这些碳化物合成的预烧结和烧结硬质合金中钴、铬、铁、锰、钼、铌、镍、钽、钛、钒、钨和锆含量的测定,各元素测定范围见表 1。
表 1 测定范围
元素
质量分数 %
Co
0.05~50.00
Cr
0.05~5.00
Fe
0.05~10.00
Mn
0.05~2.50
Mo
0.05~5.00
Nb
0.05~15.00
Ni
0.05~20.00
Ta
0.05~30.00
Ti
0.05~30.00
V
0.05~4.00
W
45.00~95.00
Zr
0.05~2.00
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款 。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件 ;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单) 适用于本文件。
GB/T 6682—2008 分析实验室用水规格和试验方法
GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定
3 术语和定义
本文件没有需要界定的术语和定义。
1
GB/T 26050—2024
4 原理
首先用氧化法或酸溶法将试料转化为氧化物,然后采用合适的熔剂熔融,制备成硼酸盐玻璃状熔融样片,测量待测元素的特征 X 射线光谱的强度,根据校准曲线分析,并进行元素间干扰效应校正,以获得各待测元素的质量分数。
5 干扰元素
干扰元素的影响,例如钛和钨对钒可能会对谱线的产生干扰。
6 试剂
6.1 水,符合 GB/T 6682—2008,三级及以上。
6.2 无水四硼酸锂或无水四硼酸锂+偏硼酸锂混合熔剂,应为无水干燥状态,否则应在500 ℃~600 ℃灼烧 4 h,冷却后贮存在干燥器中备用 。
6.3 氢氟酸 (ρ=1.12 g/mL) ,分析纯。
6.4 硝酸 (1+1)。
6.5 硫酸 (1+1)。
6.6 脱模剂 :溴化锂溶液(240 g/L) ,也可用碘化钾溶液 、碘化锂溶液等。
注: 溶液浓度建议根据实际情况配制。
7 仪器与设备
7.1 X 射线荧光光谱仪。
7.2 高频熔融制样机。
7.3 高温炉。
7.4 铂金坩埚(平底, 95% Pt+5% Au)。
7.5 铂合金板,具有磨光表面(85% Pt+10% Rh+5% Au 或者 95% Pt+5% Au)。
7.6 黄铜环或耐热钢筒、石墨筒。
7.7 研磨装置。
7.8 瓷舟。
7.9 天平,显示分度值0.1 mg。
8 样品
氧化法样品应通过 0.18 mm筛孔 ;酸溶法样品应通过 2 mm筛孔。
9 试验步骤
9.1 试料
用天平(7.9) 称取 1.0 g 样品(第 8 章) ,精确至 0.000 1 g。
2
GB/T 26050—2024
9.2 平行试验
平行做两次试验,取其平均值。
9.3 预处理
9.3.1 可用氧化法(9.3.2) 或酸溶法(9.3.3) ,将试料转化为氧化物 。若钼含量大于 0.10%,则不应采用氧化法。
9.3.2 将试料 (9 . 1) 置于已恒重的瓷舟 (7 . 8) 中,在通空气状态下,于高温炉中由室温升至700 ℃~950 ℃,然后氧化试料约1 h ,直至完全氧化,按照 9.5 的规定继续进行试验。
9.3.3 将试料(9 . 1) 置于铂金坩埚(7 . 4) 中,加入 15 mL 硝酸(6 . 4)、2 mL 氢氟酸(6 . 3) ,加热至试料完全溶解后,加入1 mL~2 mL 硫酸(6 . 5) 使其干燥,在约 600 ℃ 下加热直至无 SO3气体逸出,冷却。
9.4 灼烧系数
3
灼烧系数 k按公式(1) 计算:
k =
m2 -m1
m
…………………………
(1)
式中:
m2 ─瓷舟或铂金坩埚和试料灼烧后的总质量,单位为克(g);
m1 ─瓷舟或铂金坩埚灼烧前的质量,单位为克(g);
m ─试料质量,单位为克(g)。
9.5 试样样片的制备
9.5.1 采用高频熔融制样机( 7.2 )制备
称取 0.2 g 试料(9.3.2 或 9.3.3) 和 6 g 无水四硼酸锂或无水四硼酸锂+偏硼酸锂混合熔剂(6.2) ,精确至 0.001 g,置于铂金坩埚(7.4) 中充分混匀,加入 0.7 mL 脱模剂 [ 溴化锂溶液(6.6) ] 后,于高频熔融制样机(7.2) 中,在 1 000 ℃~1 100 ℃ 温度下熔化 10 min~15 min,其氧化物被完全熔融成均匀的玻璃片。可根据实际情况增减试料、熔剂、脱模剂的量。
9.5.2 采用高温炉( 7.3 )制备
采用如下步骤进行制备。
a) 称取0.2 g试料(9 . 3 . 2 或9 . 3 . 3) 和6 g无水四硼酸锂或无水四硼酸锂 +偏硼酸锂混合熔剂(6.2) ,精确至 0.001 g,置于铂金坩埚(7.4) 中充分混匀,加入0.7 mL脱模剂[溴化锂溶液(6.6)]后,在高温炉中于750 ℃~850 ℃温度下加热铂金坩埚,直至其完全熔融,反应结束为止 。盖住铂金坩埚,在约1 000 ℃~1 100 ℃温度下熔化10 min~15 min,熔融氧化物,回荡熔化物以得到均匀体。
b) 黄铜环或耐热钢筒 、石墨筒(7.6) 放在铂合金板(7.5) 中,置于300 ℃~400 ℃的加热装置上,把熔化物倒入已预热的黄铜环中,冷却至室温,使硼酸盐片从铂合金板上疏松下来。
c) 在研磨装置(7.7) 上研磨硼酸盐片,直至得到平滑光洁表面。立刻冲洗,干燥该表面。如达不到平滑光洁表面,可在220号砂纸上进行最后的湿研磨或干研磨,当使用干研磨时,不应使试样通过砂纸被另一个试样污染。
GB/T 26050—2024
9.6 标准样片的制备
标准样片是为建立标准工作曲线使用的 。制备标准样片的标准样品其化学成分和组织结构应与分析试样相近似,应涵盖分析元素的含量范围,并保持适当的梯度 。标准样品可通过混合已精确知道其成分含量的金属或其化合物来进行配制,标准样片的制备按与试样样片相同的制备方式制备成玻璃片。
9.7 测定
9.7.1 推荐的分析线和分析晶体
推荐的分析线和分析晶体见表2。 必要时,可进行背底校正或内标法校正。
表 2 推荐的分析线和分析晶体
元素
Co、Cr、Fe、Mn、Mo、Nb、Ni、Ti、V、Z r
Ta、W
分析线
Kα1,2
L
α1
分析晶体
LiF
9.7.2 试样样片的测定
在选定的测定条件下用 X 射线荧光光谱仪(7.1) 测定标准样片,选择合适的模型对校准曲线进行校正,绘制其标准工作曲线,并选择合适的标准样片作为漂移校正样片,进行仪器的漂移校正,最后测定试样样片的 X 射线荧光强度,根据校准曲线计算出分析元素的含量。
10 试验数据处理
4
11
各元素的含量以其质量分数 wi计,数值以 % 计,按公式(2) 计算:
wi = k × w j …………………………(2)
式中:
k ─灼烧系数;
w j ─工作曲线上查得的被测元素的质量分数。
计算结果表示至小数点后两位,数值修约按 GB/T 8170 的规定执行。
允许差
两次测量值的允许差,不应超过表 3 的规定。
表 3 允许差
含量 %
允许差 %
0.05~0.10
0.01
>0.10~0.50
0.03
>0.50~2.00
0.10
>2.00~10.00
0.25
GB/T 26050—2024
表 3 允许差(续)
含量 %
允许差 %
>10.00~30.00
0.40
>30.00~95.00
1.00
12 试验报告
试验报告至少应给出以下方面的内容:
—试验对象;
—本文件编号;
—分析结果及其表示;
—与基本分析步骤的差异;
—观察到的异常现象;
—试验日期。
—
5
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