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T/CASAS 004.1-2018 4H碳化硅衬底及外延层缺陷术语
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资料介绍
本标准规定了4H碳化硅衬底及外延层缺陷术语和定义,其中包括4H-SiC材料、缺陷共性用语、衬底缺陷、外延层缺陷以及工艺缺陷五部分,其中工艺缺陷包括抛光(CMP)、离子注入、高温退火与氧化等相关工艺产生的缺陷。
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