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DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范
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- 类 别：综合地方标准
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资料介绍
本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。
本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
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