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半导体器件与电路的可靠性及退化
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资料介绍
半导体器件及电路的可靠性与退化
作者：（英）M.J.豪斯（M.J.Howes），（英）D.V.摩根（D.V.Morgan）主编；李锦林等译
ISBN：7030011643/9787030011640
出版时间：1989
作者：（英）M.J.豪斯（M.J.Howes），（英）D.V.摩根（D.V.Morgan）主编；李锦林等译
ISBN：7030011643/9787030011640
出版时间：1989
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