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SJ∕T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
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SJ∕T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
本标准规定了光电耦合器件（以下简称光耦）1Hz～300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。
本标准规定了光电耦合器件（以下简称光耦）1Hz～300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。
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