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SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法
- 英文名称：Test method for microcrack defects of silicon wafers for solar cell
- 下载地址：[下载地址2]
- 提 取 码：mhw1
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资料介绍
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)微裂纹缺陷的测试方法。
本标准适用于太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试，也可适用于硅片裂纹、杂质和孔洞缺陷的测试。在采用本标准提供的测试方法测试其他类型的样品之前，需由供需双方协商。
本标准适用于太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试，也可适用于硅片裂纹、杂质和孔洞缺陷的测试。在采用本标准提供的测试方法测试其他类型的样品之前，需由供需双方协商。
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