您当前的位置:首页 > SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法 > 下载地址2
SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法
- 英文名称:Measuring methods for semiconductor laser diodes
- 下载地址:[下载地址2]
- 提 取 码:7uv9
- 浏览次数:3
新闻评论(共有 0 条评论) |
资料介绍
本标准规定了半导体激光二极管的光学、电学和热学参数的测试方法。
本标准适用于带或不带尾纤的半导体激光二极管(以下简称“激光二极管”)。
本标准适用于带或不带尾纤的半导体激光二极管(以下简称“激光二极管”)。
相关推荐
- SJ 2534.11-1987 天线测试方法 辐射效率的确定
- SJ 21455-2018 集成电路陶瓷封装 合金烧结密封工艺技术要求
- SJ/T 11666.1-2016 制造执行系统(MES)规范 第1部分:模型和术语
- SJ/T 11805-2022 人工智能从业人员能力要求
- SJ/T 31083-2016 真空镀膜设备完好要求和检查评定方法
- SJ 21275-2018 微波组件用静电敏感和湿度敏感元器件防护要求
- SJ/T 11666.3-2016 制造执行系统(MES)规范 第3部分:功能构件
- SJ/T 11564.4-2015 信息技术服务 运行维护 第4部分:数据中心规范
- SJ/T 11666.14-2016 制造执行系统(MES)规范 第14部分:橡胶制品行业制造执行系统软件功能
- SJ 21150-2016 微波组件印制电路板设计指南