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JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范

  • 英文名称:Calibration Specification for Grating Micrometers
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资料介绍

本规范适用于0.1 μm级行程为0~10 mm、0.2 μm级行程为0~25 mm、0.5 μm级行程为0~50 mm、1 μm级~10 μm级行程为0~100 mm的光栅式测微仪校准。
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