JIS C 5630-28-2020 半导体器件 微机电器件 第28部分：振动驱动MEMS驻极体能量收集装置的性能测试方法

• 标准编号：JIS C 5630-28-2020 半导体器件 微机电器件 第28部分：振动驱动MEMS驻极体能量收集装置的性能测试方法.pdf
• [下载地址1]   [下载地址2]
• 提 取 码：
• 下载次数：3   加入收藏