本文件描述了采用质子对电荷耦合器件(CCD)进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序。本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。 上一篇: T/CNS 74-2022 高温气冷堆核动力厂氦气使用要求 下一篇: T/CNS 82-2022 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法