本文件规定了宇航用静态随机存储器(Static Random-Access Memory,SRAM)总剂量(totalionizing dose,TID)效应试验方法。本文件适用于评估宇航用SRAM的抗总剂量效应能力,抗辐射加固SRAM试验验证,SRAM总剂量效应研究。 上一篇: T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法 下一篇: T/CNS 83-2022 核电厂工业数据安全管理导则