本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。标准号:GB/T 43226-2023标准名称:宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法英文名称:Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit发布日期:2023-09-07实施日期:2024-01-01引用标准:GB 18871-2002起草人:赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁起草单位:北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院归口单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425) 上一篇: GB/T 43225-2023 空间物体登记要求 正式版 下一篇: GB/T 43227-2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法 正式版