现代应用物理学丛书 薄膜结构X射线表征 第二版 作者:麦振洪 著出版时间: 2015年版丛编项: 现代应用物理学丛书内容简介《薄膜结构X射线表征》结合作者二十多年来的工作积累和国内外最新进展,系统介绍应用X射线衍射和散射技术表征薄膜微结构的多种基本实验装置、实验数据分析理论以及典型的薄膜微结构表征实例。《薄膜结构X射线表征》分3篇(共19章):第1篇为基本实验装置(第1~3章),主要介绍X射线源、X射线准直和单色化、各种探测器以及薄膜X射线衍射仪和表面/界面散射装置。第2篇为基本理论(第4~10章),介绍薄膜X射线衍射和散射实验数据分析所用的相关理论,包括用于薄晶体或小晶体多层膜和金属多层膜的X射线衍射运动学理论;用于近完美多层膜、半导体超晶格和多量子阱的X射线衍射动力学理论;用于原子密度和晶格参数很接近的金属多层膜的X射线异常衍射精细结构理论;用于薄膜和多层膜表面与界面分析的X射线反射、漫散射理论以及掠入射衍射理论。基本覆盖了目前应用X射线衍射和散射技术研究薄膜结构所需要的理论。第3篇为薄膜微结构表征(第11~19章),介绍应用X射线衍射和散射技术表征薄膜微结构的实例,除了总结作者二十多年来在薄膜研究中所解决的微结构表征实例外,还尽量收集近年来国内外有关的重要结果,以供读者参考。薄膜的种类涉及半导体外延膜及超晶格材料、超导异质薄膜材料、金属磁性多层膜材料、软物质薄膜和有机半导体薄膜。表征的微结构包括单层膜和多层膜厚度、点阵参数、应力、表面与界面、缺陷、弛豫横向、调制结构以及钙钛矿结构氧八面体畸变。目录目录第二版前言第一版序第一版前言第1篇基本实验装置第1章X射线源与X射线探测麦振洪贾全杰31.1X射线源31.1.1X射线产生和X射线谱31.1.2封闭式X射线管41.1.3同步辐射光源61.2X射线准直和单色化91.2.1狭缝101.2.2双晶单色器101.2.3多晶单色器131.3X射线探测器151.3.1计数器151.3.2位置灵敏探测器181.3.3面探测器19参考文献19第2章薄膜X射线衍射仪李建华212.1高分辨共面X射线衍射仪212.2掠入射衍射装置272.3测量分辨率的分析28参考文献30第3章表面/界面X射线散射罗光明麦振洪313.1固体表面/界面X射线反射和漫散射装置323.2液体表面/界面X射线反射和散射装置34参考文献37第2篇基 本 理 论第4章X射线衍射运动学理论麦振洪414.1引言414.2X射线衍射几何414.2.1劳厄方程424.2.2布拉格方程434.3倒易点阵444.3.1倒易点阵定义444.3.2色散面——Ewald球474.4X射线衍射强度494.4.1单电子散射494.4.2原子散射因子494.4.3结构因子514.5薄晶体衍射强度52参考文献54第5章金属多层膜的X射线衍射运动学理论罗光明麦振洪565.1成分混合/合金化的多层膜565.2[A/B]N多层膜59参考文献63第6章X射线衍射动力学理论(一)——完美晶体麦振洪罗光明646.1引言646.2完美晶体中X射线波动方程656.3双光束近似676.4色散面696.5劳厄几何晶体内波场振幅746.6布拉格几何晶体内波场振幅776.6.1无吸收晶体的反射率786.6.2有吸收晶体的反射率796.7双轴晶衍射摇摆曲线的理论计算80参考文献81第7章X射线衍射动力学理论(二)——畸变晶体麦振洪837.1引言837.2晶体中的调制波847.3高木方程857.4高木方程的都平形式867.5多层膜结构的X射线双轴晶摇摆曲线计算887.5.1概述887.5.2外延材料反射率的X射线衍射动力学理论解897.5.3迭代公式中参数的计算927.6应变弛豫超晶格的X射线双轴晶摇摆曲线计算967.6.1弛豫机制与应变分布977.6.2取向差与峰形展宽99参考文献101第8章X射线异常衍射精细结构理论罗光明1028.1没有周期调制的多层膜1028.2[A/B]n多层膜1068.3实验方法1068.4DAFS谱线的分析方法108参考文献110第9章X射线掠入射衍射理论贾全杰姜晓明1129.1概述1129.2X射线掠入射衍射准运动学理论1149.2.1DWBA1149.2.2DWBA下薄膜材料的掠入射衍射理论1169.3掠入射衍射的应用119参考文献120第10章X射线界面反射和漫散射理论李明罗光明12110.1X射线镜面反射12110.2粗糙表面的散射(一)——玻恩近似12410.3粗糙表面的散射(二)——DWBA理论12510.4多层膜的DWBA散射理论12810.5界面起伏的关联函数13010.5.1表面关联函数13010.5.2自仿射关联13110.5.3多层膜界面之间的关联131参考文献133第3篇薄膜微结构表征第11章单层膜和多层膜厚度李建华13711.1单层膜和多层膜共面X射线衍射13711.2埋层的探测14411.2.1高分辨X射线衍射14411.2.2X射线镜面反射147参考文献149第12章外延膜的晶格参数?应力与组分麦振洪15012.1共面X射线双轴晶衍射15012.2薄膜残余应力检测的X射线mapping技术15312.3掠入射衍射160参考文献165第13章薄膜表面与界面李明麦振洪罗光明16613.1X射线镜面反射16613.1.1氧化物薄膜界面16613.1.2磁性金属多层膜界面16913.1.3BaTiO3/Pt 界面的“dead layer”17013.2X射线漫散射17113.2.1ZnTe/ZnSxTe1-x超晶格中的生长台阶17213.2.2长周期BeTe/ZnSe超晶格界面台阶上的无规起伏17513.2.3短周期BeTe/ZnSe超晶格界面的化学键17613.3X射线异常衍射精细结构17813.3.1埋层量子线17813.3.2在金属多层膜中的应用180参考文献185第14章横向调制结构李建华贾全杰18614.1表面栅格结构18614.2横向成分调制结构19014.3量子线结构19414.4量子点结构19914.5原子有序结构203参考文献216第15章外延膜中的缺陷李建华李明麦振洪21815.1倒易空间X射线散射强度分布21815.2应变弛豫21915.2.1晶格失配应变21915.2.2成分梯度应变22315.3失配位错22615.3.1位错的X射线漫散射22715.3.2低密度位错22815.3.3高密度位错23115.4X射线反射形貌术23515.4.1BergBarrett反射形貌术23615.4.2双轴晶形貌术237参考文献241第16章软物质薄膜与界面李明罗光明24216.1液体薄膜与界面24216.1.1实验方法24216.1.2液体薄膜24316.2固/液界面的磷脂多层膜24716.2.1磷脂多层膜结构的X射线散射研究24716.2.2磷脂多层膜的溶胀25116.3表面活性剂多层膜25316.3.1水对硬脂酸膜界面起伏的影响25316.3.2LB膜的界面粗糙化与生长动力学25516.4小分子及离子相关液体界面25816.5三价态离子在水/空气界面的结构263参考文献267第17章薄膜晶体结构的表征和测定刘华俊杨平26917.1布拉维晶胞和点阵参数的测定27017.1.1RSV法27217.1.2六维矢量法(G6空间法)27617.1.3实验条件和分辨率28017.1.4外延薄膜结构实例28417.1.5讨论28817.2晶粒,孪晶,调制结构和点阵参数28917.2.1晶粒和相界29017.2.2单斜孪晶在RSM图上的行为29117.2.3四方相a畴和c畴的行为29817.2.4调制结构30217.2.5四方相a畴,c畴的模拟和三方相纳米孪晶的讨论30517.3氧八面体转动的测定30817.3.1钙钛矿结构30817.3.2氧八面体转动的Glazer分类30917.3.3半指数晶面衍射法31017.3.4结构分析实例31217.4COBRA界面结构分析方法31317.4.1表面衍射与晶体截断杆31417.4.2COBRA原理与方法31517.4.3结构分析实例31517.5外延薄膜的单晶结构分析31517.5.1单晶结构分析方法31617.5.2薄膜分析的困难31617.5.3实验方法与数据处理31717.5.4结构分析实例31817.6结语319参考文献320第18章钙钛矿结构氧八面体畸变的X射线表征吴小山32418.1钙钛矿氧化物的特殊电子结构32418.2过渡金属钙钛矿氧化物中八面体畸变的X射线表征方法32918.3扩展X射线吸收精细结构方法33818.4掠入射反射在界面氧八面体结构畸变中的应用34618.4.1掠入射反射确定膜厚34718.4.2X射线漫散射技术35118.4.3晶体截断杆技术35218.5高分辨衍射技术35418.5.1高分辨衍射35418.5.2倒易空间X射线散射强度分布图360参考文献366第19章有机半导体薄膜晶体结构的表征张吉东37019.1有机半导体简介37019.2有机半导体薄膜的受限结晶37119.2.1有机半导体材料的结晶结构37119.2.2有机半导体材料在薄膜中的受限结晶37219.3有机半导体薄膜结晶结构的X射线衍射表征技术37419.3.1常规X射线衍射技术37519.3.2X射线掠入射衍射技术37819.4有机半导体薄膜结晶结构的X射线衍射表征38319.4.1有机半导体薄膜的三维结晶结构38319.4.2归属有机半导体薄膜的晶型38619.4.3有机半导体薄膜的精细结构差别38919.4.4有机半导体薄膜的结晶度39019.4.5有机半导体薄膜的取向表征39119.4.6有机半导体薄膜结晶结构演变的实时表征394参考文献397索引399 上一篇: 物理能量转换世界 相互吸引的能量 [吴波 编著] 2013年版 下一篇: 中国工程物理研究院科技年报 2009年版 《中国工程物理研究院科技年报》 编辑部 编 2010年版