材料科学研究与测试方法 第3版出版时间:2016年版丛编项: 普通高等教育"十一五"国家级规划教材内容简介 《材料科学研究与测试方法(第3版)/普通高等教育“十一五”国家级规划教材》首先介绍了晶体学基础知识,然后系统介绍了X射线的物理基础、X射线衍射的方向与强度、多晶体X射线衍射分析的方法、X射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析、小角X射线散射、薄膜应力及厚度测定等方面的应用;介绍了电子衍射的物理基础、透射电子显微镜的结构与原理、衍射成像、运动学衬度理论、高分辨透射电子显微技术、扫描电镜、扫描透射电镜、电子背散射衍射等;介绍了AES、XPS、XRF、STM、AFM、LEED等常用表面分析技术和TG、DTA、DSC等常用热分析技术的原理、特点及其应用;*后简要介绍了红外光谱、拉曼光谱和ICP等。书中研究和测试的材料包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料等。对每章内容作了提纲式的小结,并附有适量的思考题。书中采用了一些作者尚未发表的图片和曲线,同时在实例分析中还注重引入了一些当前材料界*新的研究成果。《材料科学研究与测试方法(第3版)/普通高等教育“十一五”国家级规划教材》可作为材料科学与工程学科本科生的学习用书,也可供相关学科与专业的研究生、教师和科技工作者使用。目录1 晶体学基础1.1 晶体及其基本性质1.1.1 晶体的概念1.1.2 空间点阵的四要素1.1.3 布拉菲阵胞1.1.4 典型晶体结构1.1.5 晶体的基本性质1.1.6 准晶体简介1.2 晶向、晶面及晶带1.2.1 晶向及其表征1.2.2 晶面及其表征1.2.3 晶带及其表征1.3 晶体的宏观对称及点群1.3.1 对称的概念1.3.2 对称元素及对称操作1.3.3 对称元素的组合及点群1.3.4 晶体的分类1.3.5 准晶体的点群及其分类1.3.6 点群的国际符号1.3.7 点群的圣佛利斯符号1.4 晶体的微观对称与空间群1.4.1 晶体的微观对称1.4.2 晶体的空间群及其符号1.5 晶体的投影1.5.1 球面投影1.5.2 极式网与乌氏网1.5.3 晶带的极射赤面投影1.5.4 标准极射赤面投影图(标准极图)1.6 倒易点阵1.6.1 正点阵1.6.2 倒点阵(倒易点阵)1.6.3 正倒空间之间的关系1.6.4 倒易矢量的基本性质1.6.5 晶带定律1.6.6 广义晶带定律本章小结思考题2 X射线的物理基础2.1 X射线的发展史2.2 X射线的性质2.2.1 X射线的产生2.2.2 X射线的本质2.3 X射线谱2.3.1 X射线连续谱2.3.2 X射线特征谱2.4 X射线与物质的相互作用2.4.1 X射线的散射2.4.2 X射线的吸收2.4.3 吸收限的作用本章小结思考题3 X射线的衍射原理3.1 X射线衍射的方向3.1.1 劳埃方程3.1.2 布拉格方程3.1.3 布拉格方程的讨论3.1.4 衍射矢量方程3.1.5 布拉格方程的厄瓦尔德图解3.1.6 布拉格方程的应用3.1.7 常见的衍射方法3.2 X射线的衍射强度3.2.1 单电子对X射线的散射3.2.2 单原子对X射线的散射3.2.3 单胞对X射线的散射3.2.4 单晶体的散射强度与干涉函数3.2.5 多晶体的衍射强度3.2.6 影响多晶体衍射强度的其他因子本章小结思考题4 X射线的多晶衍射分析及其应用4.1 X射线衍射仪……5 电子显微分析的基础6 透射电子显微镜7 薄晶体的高分辨像8 扫描电子显微镜及电子探针9 表面分析技术10 热分析技术11 电子背散射衍射12 光谱分析附录参考文献 上一篇: 材料科学基础 [刘东亮,邓建国 著] 下一篇: 材料科学与工程专业实验教程 [李文虎,艾桃桃 主编]