纳米材料表面电子结构分析出版时间:2010年版内容简介 纳米科学与技术是表面科学与技术的延伸和发展,因为两者的理论基础和实验研究方法基本相同。电子结构是决定材料光、电等物理性质及化学催化活性的关键。《纳米材料表面电子结构分析》从表面科学角度,集中讨论纳米材料表面的电子结构具有从原子分子的分裂能级到块体连续能带的过渡特征。全书重点介绍如何利用表面科学实验方法获取纳米材料电子结构的信息,同时,注意理论计算与具体实验结果相结合,比较清楚地阐释了纳米结构状态下电子结构的特点。全书除绪论外,共分5章。第1章从已有的实验结果和理论分析,充分说明纳米材料电子结构的过渡特性。第2章介绍纳米电子结构研究中,目前常用的表面科学方法,重点讨论分析方法的物理基础、谱含有的信息及对描述纳米材料电子结构的贡献。随后选择一些最新研究成果,在第3~5章,分别介绍了碳质纳米材料、异质纳米界面以及半导体材料电子结构的量子尺寸效应。《纳米材料表面电子结构分析》可作为材料、能源环境、信息工程以及物理化学领域研究生和高年级本科生的教材;对于工作在这些领域的科学工作者、教师、工程技术专家,《纳米材料表面电子结构分析》也是一本有益的参考书籍。对于那些从事表面分析的专家,面对当今蓬勃发展的纳米科学与技术领域提出的众多课题,如何提高分析水平,《纳米材料表面电子结构分析》所提供的分析范例及相关引文,亦具有实际参考价值。目录0 绪论0.1 内容限定0.2 表面对纳米电子结构的影响0.3 占有态与未占有态0.4 纳米材料电子结构的过渡特征及簇的桥梁作用0.5 理论对纳米电子结构分析的支持参考文献1 纳米材料电子结构的特点1.1 材料电子结构概述1.1.1 Bloch波函数1.1.2 κ空间与能带结构1.1.3 Fermi能Ef及Fermi分布函数F(E)1.1.4 状态密度1.2 表面电子态1.2.1 金属表面电子隧穿效应1.2.2 半导体表面能带弯曲1.2.3 金属氧化物表面缺陷及电子结构1.3 金属纳米簇电子结构1.3.1 纳米簇电子结构的过渡特性1.3.2 电子受限尺度1.3.3 势阱与电子能级1.3.4 尺寸与维数对纳米电子结构参数的影响1.3.5 金属纳米簇质谱图与Jel1ium模型1.3.6 “魔数”与纳米簇结构周期表1.3.7 金属纳米簇电离势1.3.8 金属纳米簇价带结构1.3.9 金属纳米簇极化率1.3.10 纳米簇质谱与Je1lium模型适用性评估1.3.11 金属纳米粒子电中性及Coulomb阻塞1.3.12 簇尺寸诱导金属-绝缘体过渡1.3.13 金属纳米粒子之间的单电子传输1.4 半导体纳米粒子的电子结构1.4.1 基本概念与几个相关参数1.4.2 纳米Si电子结构1.4.3 Si纳米粒子的电子结构PES测定1.4.4 化合物半导体纳米粒子的电子结构1.4.5 激子1.5 纳米有机聚合物电子结构1.5.1 有机分子电子结构及PES谱1.5.2 聚乙炔分子结构及导电机制1.5.3 trans-(CH)xUPS测定参考文献2 纳米材料表面电子结构表征方法2.1 引言2.1.1 电子结构的完整表述2.1.2 电子结构表征方法概述2.2 X射线光电子谱(XPS)2.2.1 原激发过程与XPS谱2.2.2 化学位移与占有态结构2.2.3 终态效应与电子结构2.2.4 XPS价带谱2.2.5 表面原子内能级物理位移2.3 紫外光电子谱2.3.1 价电子结构与紫外光电子谱2.3.2 角分辨紫外光电子谱测量2.3.3 表面态与UPS谱2.3.4 UPS测量时的几个问题2.4 自旋极化光电子谱2.4.1 方法简介2.4.2 铁磁性材料极化率2.4.3 非磁性材料极化率2.5 两光子光发射谱2.5.1 分子-电极界面2.5.2 2PPE工作原理2.5.3 2PPE实验观测量2.5.4 2PPE实验装置简介2.5.5 界面电子结构与2PPE谱2.6 反光电子谱2.6.1 反光电子发射实验2.6.2 表面想象势态2.6.3 Ge能带结构的完备表征2.6.4 CO分子吸附态2.6.5 金属-半导体界面态2.7 X射线吸收谱2.7.1 固体中X射线吸收和发射2.7.2 近边X射线吸收精细结构谱2.7.3 NEXAFS实验2.7.4 NEXAFS谱与空态结构2.8 固体拉曼光谱简介2.8.1 拉曼光谱基本原理2.8.2 激光拉曼谱仪2.8.3 数据分析和RS阐释参考文献3 碳质纳米材料表面电子结构表征3.1 碳质纳米结构家族叫3.2 碳质薄膜特征与sp2、sp3杂化键分析3.2.1 拉曼光谱法3.2.2 XPS分析3.2.3 占有与未占有电子态SXEA测定3.3 a-C:H薄膜状态密度与sp2杂化碳原子空间结构3.3.1 a-C:H薄膜结构的复杂性与电子态3.3.2 a-C电极中C-H和C-O键问题3.4 a-C薄膜中sp杂化键3.4.1 a-C膜中sp杂化键测定3.4.2 a-C膜中sp杂化键的稳定性3.5 石墨电子结构3.5.1 基础知识3.5.2 单晶石墨能带结构ARUPS测量3.5.3 C KVV俄歇线形与层间轨道相互作用3.5.4 结构缺陷与电子传输3.5.5 石墨带宽3.5.6 石墨C sp2键修正与X射线吸收谱3.5.7 石墨n2态密度与C K边XANES谱3.6 类金刚石薄膜电子结构综合表征3.6.1 EELS分析3.6.2 XPS分析3.6.3 D参数法3.6.4 NEXAFS分析3.6.5 UPS分析3.7 金刚石薄膜几个电参数分析3.7.1 表面电阻率与拉曼谱3.7.2 逸出功与SKPM分析3.7.3 掺硼金刚石半导体氘化与传导特性转换3.8 富勒希电子结构表征3.8.1 C60构型及其分子固体结构简介3.8.2 几个原型富勒希分子固体UPS/EELS分析3.8.3 杂原子富勒希电子结构测定3.8.4 插入金属富勒希电子结构测定3.9 碳纳米管3.9.1 碳纳米管几何结构及其特征参数3.9.2 单壁碳纳米管的电子结构及传输特性3.9.3 单壁碳纳米管电子结构测定3.9.4 化学修筛SWCNT电子结构参考文献4 纳米异质界面电子结构分析4.1 有机分子膜/金属界面电子结构4.1.1 界面电子结构类型4.1.2 界面电子结构UPS分析4.1.3 界面电子结构UPS与IPES组合分析4.1.4 有机分子/金属界面2PPE分析4.2 SiO2/Si界面电子结构分析4.2.1 SiO2/Si界面化学结构表征4.2.2 SiO2/Si界面电子结构表征4.2.3 界面电子结构参数与SiO2膜介电常数4.3 负载金属纳米粒子的电子结构分析4.3.1 负载金属簇界面电子结构光发射分析4.3.2 负载金属簇局域状态密度STM/STS分析4.3.3 负载金属簇电子受激时的尺寸效应4.3.4 强金属载体相互作用(SMSI)分析4.4 双金属表面电子结构分析4.4.1 单层双金属样品制备及分析条件4.4.2 Ni/Pt(111)模型样品表面结构表征4.4.3 表面d带中心4.4.4 Ni/Pt(111)电子结构与表面化学4.5 纳米薄膜量子尺寸效应与光发射谱4.5.1 引言4.5.2 晶格匹配Ag/Au(111)和Au/Ag(111)体系4.5.3 品格失配界面光发射测量4.5.4 原子平整界面光发射谱参考文献5 纳米半导体光电性质尺寸效应分析5.1 纳米Si带隙量子尺寸效应补充说明5.2 Ⅲ-Ⅴ族半导体量子点尺寸效应分析5.2.1 InAs量子点带隙与尺寸关系5.2.2 InGaAs量子点带隙尺寸效应和合金化5.2.3 InAs量子点逸出功KFM测量5.2.4 含InP量子点InCaP/GaAs异质体系电子结构表征5.3 Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体纳米晶尺寸效应分析5.3.1 CdSe纳米晶光学特性尺寸效应5.3.2 CdTe纳米晶电子结构XES分析5.3.3 CdS/CdTe界面价带补偿XPS分析5.3.4 CdS纳米晶带结构尺寸效应5.4 Cu2S纳米棒的电子结构PD-XAS分析参考文献 上一篇: 新型功能复合材料制备新技术 下一篇: 纳米毒理学:纳米材料安全应用的基础