材料现代分析技术 出版时间:2012年内容简介 《普通高等教育材料科学与工程“十二五”规划教材:材料现代分析技术》首先介绍了晶体学基础知识,然后系统介绍了X射线的物理基础、X射线衍射的方向与强度、多晶体X射线衍射分析的方法、X射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析等方面的应用;介绍了电子衍射的物理基础、透射电子显微镜的结构与原理、衍射成像、运动学衬度理论、高分辨透射电子显微技术、扫描电子显微镜的结构与原理、电子探针及其应用;介绍了俄歇电子能谱仪(AES)、X射线光电子能谱仪(XPS)、扫描隧道电镜(STM)、低能电子衍射(LEED)等常用表面分析技术和热重分析法(TG)、差热分析法(DTA)、差示扫描量热法(DSC)等常用热分析技术的原理、特点及其应用;最后简要介绍了光谱分析技术,包括原子光谱、红外光谱、激光光谱等。书中研究和测试的材料包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料等。对每章内容作了提纲式的小结,并附有适量的思考题。书中采用了一些作者尚未发表的图片和曲线,同时在实例分析中还注重引入了一些当前材料界最新的研究成果。《普通高等教育材料科学与工程“十二五”规划教材:材料现代分析技术》可作为材料科学与工程学本科生的学习用书,也可供相关学科与专业的研究生、教师和科技工作者使用。目录目录回到顶部↑《材料现代分析技术》第1章晶体学基础1.1晶体及其基本性质1.2晶向、晶面及晶带1.3晶体的宏观对称及点群1.4晶体的微观对称与空间群1.5晶体的投影1.6倒易点阵本章小结思考题第2章x射线的物理基础2.1 x射线的发展史2.2 x射线的性质2.3 x射线谱2.4 x射线与物质的相互作用本章小结思考题第3章x射线的衍射原理3.1 x射线衍射的方向3.2 x射线的衍射强度.本章小结思考题第4章x射线的多晶衍射分析及其应用4.1 x射线衍射仪4.2 x射线物相分析4.3点阵常数的精确测定4.4宏观应力的测定4.5微观应力及晶粒大小的测定4.6非晶态物质及其晶化后的衍射4.7膜厚的测量4.8多晶体的织构分析本章小结思考题第5章电子显微分析的基础5.1光学显微镜的分辨率5.2电子波的波长5.3电子与固体物质的作用5.4电子衍射本章小结思考题第6章透射电子显微镜6.1工作原理6.2电磁透镜6.3电磁透镜的像差6.4电磁透镜的景深与焦长6.5电镜分辨率6.6电镜的电子光学系统6.7主要附件6.8透射电镜中的电子衍射6.9常见的电子衍射花样6.10透射电镜的图像衬度理论6.11透射电镜的样品制备本章小结思考题第7章薄晶体的高分辨像7.1高分辨电子显微像的形成原理7.2高分辨像举例本章小结思考题第8章扫描电子显微镜及电子探针8.1扫描电镜的结构8.2扫描电镜的主要性能参数8.3表面成像衬度8.4二次电子衬度像的应用8.5背散射电子衬度像的应用8.6电子探针8.7电子探针分析及应用8.8扫描电镜的发展本章小结思考题第9章表面分析技术9.1俄歇电子能谱仪(aes)9.2x射线光电子能谱仪(xps)9.3扫描隧道电镜(stm)9.4低能电子衍射(leed)本章小结思考题第10章热分析技术10.1热分析技术的发展史10.2热分析方法10.3热分析测量的影响因素10.4热分析的应用10.5热分析技术的新发展本章小结思考题第11章光谱分析技术11.1原子发射光谱11.2原子吸收光谱11.3原子荧光光谱法11.4紫外一可见分光光度法11.5红外光谱11.6激光拉曼光谱法本章小结思考题附录a常用物理常数附录b晶体的三类分法及其对称特征附录c32种点群对称元素示意图附录d宏观对称元素及说明附录e32种点群的习惯符号、国际符号及圣佛利斯符号附录f质量吸收系数μm附录g原子散射因子f附录h原子散射因子校正值△f附录i粉末法的多重因素pnkl附录j某些物质的特征温度附录k德拜函数φ(x)/x+1/4之值附录l应力测定常数附录m常见晶体的标准电子衍射花样参考文献 上一篇: 材料仿生与思维创新 下一篇: 材料化学 [彭正合 主编] 2013年