SJ∕T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法本标准规定了二极管1Hz~300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求。 上一篇: SJ∕T 11741-2019 挠性印制电路材料的耐挠曲性测试方法 下一篇: SJ∕T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法