本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)外观缺陷的测试方法。本标准适用于太阳能电池用硅片的沽污、崩边和缺口等外观缺陷的测试。对于其他类型硅片或外观缺陷在使用本标准规定的测试方法时,需经有关各方协商。 上一篇: SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法 下一篇: SJ/T 11630-2016 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法