本标准规定了如何利用失效率数据进行电子设备中的电子元器件可靠性预计。基准条件是在大量应用中所观测到的元器件应力典型值。基准条件之所以有用，是因为它可通过采用考虑真实工作条件的应力模型，计算出任何条件下的失效率。在早期设计阶段，基准条件下的失效率允许用于实际的可靠性预计。...

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