团体标准　　T/CASAS 045—2024　　碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)动态栅偏试验方法　　Dynamic gate stress test method for silicon carbide metal‑oxide semiconductor field effect transistors(SiC MOSFET)　　2024‑11‑19 发布2024‑11‑19 实施　　第三代半导体产业技术创新战略联盟　　目次　　前言…………&hellip...

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