QJ 20325.2-2014 航天器射频部件与设备测试方法 第2部分:微放电;航天器射频部件与设备测试方法 第2部分:微放电 QJ 20325.2-2014... 上一篇:QJ 20325.1-2014 航天器射频部件与设备测试方法 第1部分:低气压放电下一篇:QJ 20325.3-2014 航天器射频部件与设备测试方法 第3部分:功率耐受