高加速寿命试验、高加速应力筛选和高加速应力审核诠释：加速可靠性技术 第二版 作　者： [美] 哈利·W.迈克莱恩（Harry W.McLean） 著；光电控制技术重点实验室 译出版时间： 2014内容简介加速可靠性试验正在迅速取代低效、耗时和高成本的传统可靠性试验。《高加速寿命试验、高加速应力筛选和高加速应力审核诠释：加速可靠性技术（第2版）》诠释的HALT、HASS和HASA，正是许多具有前瞻性发展眼光的研发和生产单...

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