集成电路芯片测试作者:王芳,徐振 主编出版时间:2014年版内容简介 《集成电路芯片测试》主要从集成电路测试从业人员所需的职业道德、C语言、自动分选机、测试机系统及应用以及常用的仪器元件、常见产品测试实例等几个方面着手,比较系统地阐述了成品测试的重要组成步骤,为微电子专业学生进行集成电路测试岗位培训提供必要的知识。 王芳、徐振主编的《集成电路芯片测试》可作为高职高专相关... 上一篇:电子元器件的识别及安装调试下一篇:激光原理与应用 [杨玉玲 编著] 2015年版