统计过程控制与评价：Cpk、SPC和PPM技术作者：贾新章，李京苑 编著 出版时间：2004本书是“电子元器件质量与可靠性技术”丛书之一，介绍如何对电子元器件生产过程进行统计质量控制，包括实施SPC技术、CPK技术和PPM技术的必要性、基本概念和方法，对元器件生产过程应用SPC技术和CPK技术时出现的特殊问题和解决办法，重点在于帮助读者掌握如何解决实际应用中的问题。本书为电子元器件质量与可靠性技术培训教...

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