书名:电子元器件失效分析与典型案例 作者:孔学东、恩云飞 出版日期:2006-01-01 简介:本书系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案例篇。内容包括：失效分析程序、失效分析技术、集成电路的失效分析典型案例等。 目录:第一篇基础篇第一章电子元器件失效分析概论1．1失效分析的目的和意义1．2失效分析的基本内容1．3失效分析要求1．4主要失效模式及其分布1．5主要失效...

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