本规范适用于以几何表面形貌为测量对象的扫描探针显微镜的校准。扫描探针显微镜根据其设计原理不同,校准时需要根据实际情况选择相关的计量特性。对有特殊要求的测量任务,如对溯源要求较高的测量,不在本校准规范的适用范围。 ...

上一篇：JJF 1352-2012 角位移传感器校准规范 高清晰版
下一篇：JJF 1350-2012 陀螺经纬仪校准规范 高清晰版